仪器商品分类

    切割式涂层测厚仪

    切割式涂层测厚仪通过刀片垂直切割涂层至基材,用显微镜测量切口宽度换算厚度。用于检测油漆、塑料等涂层厚度,确保涂装均匀性。
    仪器选型
    选择时考虑基材硬度匹配刀片材质,涂层特性决定切割角度,测量精度需匹配标准厚度范围,操作环境要求仪器具备防震防尘功能。

    术语

    检测仪器

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用四个不锈钢刀刃,测量范围2-200μm,配备LED显徽镜和独特旋转切割系统,可精确测量涂层厚度并评估基材缺陷。

    ¥ 1378.00

    提供额外一年保修期限,适用于涂层测厚仪产品,需在购买设备时同步选购,不单独售卖。

    ¥ 300.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    ¥ 520.00

    具备穿透涂层测量功能,无须打磨油漆表面可直接测量基材厚度,测量精度±(0.5%H+0.05)mm,支持2.3寸彩屏显示和大容量数据存储。

    ¥ 2400.00

    采用砝码负荷恒定切割力自动切割,切割完成后自动停止。千分尺装置可调整试样切割厚度,实现精密切割。主轴转速50~800rpm可调,配备冷却系统避免试样烧伤,切割后表面光亮平整。

    ¥ 16830.00

    提供专业校准服务确保测量精度,适用于质量控制和设备维护,需与涂层测厚仪一同购买。

    ¥ 500.00

    采用重力手动切割方式,最大切割截面85*85mm,配备双边夹具结构和封闭切割室,内置LED照明灯和循环冷却系统,确保切割质量并方便观察操作。

    ¥ 16915.00

    采用重力手动切割方式,最大切割截面85*85mm,配备双边夹具结构和封闭式切割室,内置LED照明灯和循环冷却系统,确保切割质量。

    ¥ 17850.00

    采用磁感应测厚原理,测量范围0~1250微米,适配leeb242机型,可连接打印机输出数据,适用于磁性金属基体上的非磁性涂层厚度检测。

    ¥ 900.00

    采用磁感应和电涡流原理,测量范围0~1250μm,分辨率0.1μm,支持F型和NF型探头,可测量导磁和非导磁基体上的覆盖层厚度。

    ¥ 1740.00

    采用电涡流原理,测量范围0~1250微米,配备热敏打印机可实时打印测试数据,适用于多种非磁性金属基体上的绝缘覆盖层厚度检测。

    ¥ 900.00

    适用于金相试样切割,最大切割截面65*65mm,主轴转速2800rpm,配备循环冷却系统,切割后试样表面光亮平整无烧伤,操作方便。

    ¥ 16575.00

    最大切割截面100*100mm,配备双边夹具和循环冷却系统,切割后试样表面光亮平整无烧伤,维护保养方便。

    ¥ 19210.00

    采用超声波测量原理,测量范围50~3800μm,精度±(2μm+3%),适用于混凝土和玻璃纤维等基材的涂层厚度检测。

    ¥ 17760.00

    应用知识

    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。
    涂层测厚仪磁性法与涡流法的测量原理差异
    涂层测厚仪主要有磁性法和涡流法两种测量原理。选择方法时需根据基体材料特性决定,以确保测量准确。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。