仪器商品分类

    光谱测温仪

    光谱测温仪利用物体热辐射光谱分析温度,通过接收红外波段光信号转换为电信号计算温度值。用于非接触测量运动物体、高温或危险环境表面温度,在工业窑炉、金属加工和科研实验中监测热过程。
    仪器选型
    选择时考虑测温范围覆盖被测物体温度,响应速度匹配目标变化频率,测量精度满足工艺误差要求。关注光学分辨率适应目标尺寸,光谱波段兼容材料特性,环境抗干扰能力。接口输出形式适配采集系统,防护等级适应现场条件。

    标准

    检测仪器

    采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源,测量波长范围400-700nm,台间差ΔE*ab<0.4,自动白板校验确保数据准确可靠。

    ¥ 2980.00

    采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源,测量波长范围400-700nm,重复性ΔE*ab 0.04以内,自动白板校验确保数据准确可靠。

    ¥ 2680.00

    采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源,测量波长范围400-700nm,重复性ΔE*ab 0.035以内,支持自动白板校验和多种颜色空间,人体工程学设计便于连续检测。

    ¥ 3100.00

    采用CMOS双路分光传感器,重复性ΔE*ab 0.03以内,配备Φ8mm/Φ10mm和Φ4mm/Φ5mm双测量口径,支持自动白板校验和多种颜色空间,内置摄像头精准定位。

    ¥ 5800.00

    采用CMOS双路分光传感器,重复性ΔE*ab 0.02以内,配备Φ8mm和Φ4mm四测量口径,支持非接触式自动白板校验和多种颜色空间,适应各行业精准测色需求。

    ¥ 8800.00

    配备双口径切换功能,支持Φ8mm/Φ4mm测量;采用摄像头定位系统,确保测量精准;重复精度达△E*ab≤0.03,适用于多种样品快速分析。

    采用CMOS双路分光传感器,重复性ΔE*ab 0.03以内,配备三测量口径和摄像头取景定位,支持多种颜色空间和光源,适用于荧光样品测量。

    ¥ 7800.00

    配备六种测量口径适应不同样品,采用CMOS双路分光传感器确保测量重复性ΔE*ab 0.02以内,支持非接触自动白板校验和摄像头取景定位。

    ¥ 9800.00

    采用自动校准方式,测量口径4mm,重复性ΔE*ab≤0.08,集成SCI/SCE模式去除光泽影响,支持30余种色度指标和26种观察光源,确保测量稳定性和准确性。

    ¥ 4000.00

    采用可折叠不锈钢探针设计,测温范围-49.9~49.9℃,精确度达±0.5℃,配备大屏LCD显示和华氏度切换功能,便于高温液体安全测量。

    ¥ 1517.00

    具备-50.0至1350℃宽温度范围,支持双行显示实时及最大最小值,配备自动关机和HOLD锁定功能,解析度达0.1℃/1℃,适应多种环境条件。

    ¥ 1600.00

    具备-50~900℃宽量程和±2%精度,12:1物距比实现非接触测量,响应时间500ms,结构紧凑轻便仅170g,适用于高温或危险环境。

    ¥ 249.00

    采用红外光谱测量技术,测温范围覆盖-18至1150℃,精度达±2%,具备20:1物距比和500ms快速响应,支持数据存储和USB连接功能。

    ¥ 495.00

    双通道设计可同时接两个探头测量,防水结构适应潮湿环境,测温范围-200.0~1371℃,精度±0.5℃,配备低电防错系统和数据锁定功能。

    ¥ 3230.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,实现全自动恒温控制,快速干燥且能耗较低。

    ¥ 5019.00