测量范围0~1500μm，精度±(5μm+5%)，测针端角度60度，适用于表面轮廓测量，带线设计方便连接使用。
一体设计可同时测量粗糙度、波纹度和轮廓度，无需更换测头；采用高精度光栅系统，X轴定位光栅分辨率达0.1μm，配备精密直线导轨确保测量稳定性。
提供25、40、70、100四种剖面规格，尺寸87x87x2.5mm，重量仅60克，便携式设计方便现场快速比对评估。
分体式结构设计，测量范围达0~1500μm，精度±(5μm+5%)；采用氧化铝耐磨面和碳化钨测针，支持100000个读数存储和无线数据传输功能。
采用复制胶带法测量表面粗糙度，峰值测量范围20~115μm，精度±5μm，具备自动减去基板功能，防护等级高，可防溶剂和水尘。
分体式探头便于接近狭窄区域，测量速度每分钟超50个读数，存储容量250组数据。氧化铝耐磨面和碳化钨测针确保长寿命，内置温度补偿保证精度。
彩色液晶显示屏配备100000读数存储空间，测量范围20~115μm精度±5μm，自动减去50.8微米基板，具备蓝牙数据传输和防溶剂防震外壳。
该设备可测量表面轮廓和凹坑，量程0~2000um，精度±2um，支持公/英制互换，适用于自动化系统中的物体定位和识别任务。
分体式结构设计，测量范围0-1500微米，精度±(5μm+5%)，配备高分辨率彩色LCD显示屏，支持250个数据存储，符合多项国际标准。
具备100000个测量读数存储能力，支持实时图形显示和图片提示，测量范围0~500μm，精度±(5μm+5%)，传感器半径50μm角度60°，适用多种工业标准。
内置测针设计测量范围0~500微米，每分钟可测超50个读数，配备碳化钨测针尖端和氧化铝耐磨面，具备温度补偿功能并符合多项国际标准。
采用无限远光学系统，配备半复消色差物镜和相衬聚光镜，提供40X-1000X放大范围，可观察较厚样本并增强细胞结构三维轮廓。
采用图像分割技术处理重叠粉尘，保持颗粒原貌；测量范围0.1~3000μm，重复性误差≤±1%；支持自动分级和自定义参数分析，操作简便快捷。
采用光学成像和图像轮廓分析技术，测量精度达±0.1°，配备进口CCD相机和工业级镜头，支持多种液滴状态测试及动态接触角拟合。
采用铝型材四立柱结构，稳固耐用，配备一米测试空间，振幅30±2mm，振动频率2-3Hz，可自动完成测试并计数，有效减少对提袋提环的磨损。
