仪器商品分类

    测厚仪

    测厚仪通过超声波、电磁感应或机械接触方式测量材料厚度。用于检测涂层、薄膜、板材等厚度均匀性,在质检和生产控制中确保产品符合规格要求。
    仪器选型
    根据材料属性选择测量原理:磁性法用于钢铁基体涂层,涡流法用于非铁金属基体,超声波用于塑料玻璃等。考虑厚度范围、精度需求和基材形状,潮湿环境选防水型号,曲面材料需配套专用探头。

    术语

    标准

    检测仪器

    提供额外一年保修期限,适用于涂层测厚仪产品,需在购买设备时同步选购,不单独售卖。

    ¥ 300.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    ¥ 520.00

    提供专业校准服务确保测量精度,适用于质量控制和设备维护,需与涂层测厚仪一同购买。

    ¥ 500.00

    具有发射-回波和回波-回波两种测厚模式,测量范围0.65~600mm,可自动识别探头类型并进行零点校准,支持反测声速功能以提高精度。

    ¥ 3680.00

    采用超声波原理测量厚度,测量范围0.8~300mm,精度最高达±0.04mm,支持高速测量10次/秒,便携设计适合野外现场使用。

    ¥ 3920.00

    测量铁质金属上非磁性涂层,厚度范围0-6000μm,精度±3%,内置探头单手操作,防护等级IP65,每分钟60多个读数。

    ¥ 5880.00

    测量范围1.2~225mm,支持声速测定和12笔数据存储功能,具备上下限报警设定和耦合状态提示,适用于多种材料厚度检测。

    ¥ 925.00

    符合ISO2808-1974标准,量程0~150μm,精度不大于5μm,可测定湿膜厚度并估计干膜厚度,适用于实验室和生产控制。

    ¥ 330.00

    采用微处理器技术实现0.7-400mm厚度测量,分辨率为±0.01mm,支持五种探头选配,具备自动关机和背光显示功能。

    ¥ 3120.00

    频率5.0MHz,支持隔漆层检测和发射到回波模式,测量范围2~160mm,适用于多种工件厚度测量。

    ¥ 2800.00

    具备0.01mm高分辨率和0.65-400mm宽测量范围,支持探头自动识别和多种测量模式,可穿透涂层测量基体厚度并实现数据冻结显示。

    ¥ 9520.00

    采用磁感应原理测量,厚度范围0~1000μm,误差±3%,具备低电压提示功能,支持分体探头和定制量程,适应不同曲率基体测量需求。

    ¥ 1050.00

    测量范围0-20mm,精度0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于纸张、纸板及片状材料厚度检测,符合多项国际标准。

    ¥ 2030.00

    采用回波-回波技术实现0.15mm超薄件测量,分辨率达0.001mm,可穿透0.5mm涂层测量基材厚度,支持声速校准和差值模式设置。

    ¥ 9800.00

    应用知识

    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。
    涂层测厚仪磁性法与涡流法的测量原理差异
    涂层测厚仪主要有磁性法和涡流法两种测量原理。选择方法时需根据基体材料特性决定,以确保测量准确。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。