采用偏振光干涉原理,配备1/4波片补偿方法,光程差测定范围0-589.44nm,测量精度±4nm,可同时实现定性观察和定量分析。
配备无限远光学系统和500万像素CMOS摄像头,支持单偏光、正交偏光及锥光观察,转换器四孔设计,聚光镜数值孔径1.25,满足高精度晶体结构研究需求。
配备9.7寸安卓平板成像系统,支持单偏光、正交偏光和锥光观察,配置石膏λ片和石英楔子等补偿器,聚光镜数值孔径1.30,移动尺行程30×40mm。
具备透反射两种照明型式,支持明场和偏光观察;配备500万像素数字CMOS摄像机,实现自动对焦和实时视频录制;放大倍数40X-1600X,采用无限远光学系统。
采用偏振光干涉原理,配备560nm全波片,检偏镜通光口径达150mm,可快速连续分析透明材料内应力,支持定性或半定量测量。
采用偏振光干涉原理,配备560nm全波片,可定性或半定量测量内应力,检偏镜通光口径达150mm,支持连续快速分析透明材料。
采用无限远光学系统,配置无应力平场物镜,微动格值达2μm,旋转载物台带360°刻度,支持三目观察与显微摄影,工作台垂直行程30mm。
采用无限远光学系统,支持明场、荧光、相衬、偏光多种观察模式;配备六孔转换器带DIC插槽和100W汞灯光源,提供高分辨率图像;自动对焦系统保持样本焦平面稳定。
采用无限远光学系统,支持多种观察方式,配备六孔物镜转换器和N.A.1.1阿贝聚光镜,放大倍数40X-1000X,操作简便灵活。