服装测色仪

可检测钮扣等附件固定强度，防止松脱造成利边利角损害，最大拉力30kg，适用于服装玩具鞋类等多种产品附着力测试。

具备多功能聪明按键设计，支持30多种颜色指标和28种观测光源，采用非接触式自动白板校验技术，台间差ΔE*00小于0.2，测量稳定性高，便携轻巧仅88克。

采用大面积硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.025以内，配备四种测量口径，支持荧光样品测量和41种观测光源。

采用双40阵列传感器和D/8结构，支持SCI/SCE同时测量，测试时间约3.2秒，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，适用于荧光样品和多种颜色空间分析。

适配NS系列分光测色仪，可测量液体、酱状物及粉末样品，实现多种形态材料的色彩数据采集，扩展仪器应用范围。

采用大面积硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，配备5种测量口径可适应不同样品，支持荧光样品测量。

采用双列26组硅光电二极管阵列，重复性ΔE*ab控制在0.025以内，配备四种测量口径和SCI/SCE同步测试功能，支持荧光样品测量，满足多行业精准颜色分析需求。

采用硅光电二极管阵列传感器，重复性ΔE*ab控制在0.025以内，支持SCI/SCE同时测量，内置摄像头定位，7英寸触摸屏操作便捷。

最大测量值500N，适用于胶带、皮革、服装、橡胶、电器元件、纸张等多种材料，协助推拉力计进行拉力测试，确保测试稳定性和精度。

采用大面积阵列传感器及光栅分光技术，测量口径8mm，重复性ΔE*ab控制在0.03以内，支持SCI/SCE双测量模式，具备摄像头定位功能。

最大测量值500N，专用于配套推拉力计测试台进行拉力测试，适用于服装纽扣固定件强度检测和不同纽扣拉力测试。

采用大面积阵列传感器及光栅分光技术，测量波长范围400-700nm，重复性ΔE*ab控制在0.03以内，支持SCI/SCE双测量模式，定位精准且操作便捷。

最大测量值达500N/1000N，适用于鞋底胶皮、服装纽扣固定件强度检测和不同纽扣拉力测试，提供稳定夹持力。

采用45/0几何光学结构，配备Φ20mm测量口径和凹面光栅分光，可准确测量反射率及色度数据，具有高稳定性和重复性，适合条纹或颗粒状样品。

采用D/8照明系统，台间差ΔE*00<0.2，配备非接触式自动白板校验技术，确保测量准确性，锂电池支持12000次连续测试。