仪器商品分类

    低温红外热像仪

    低温红外热像仪通过探测物体表面-80℃以下的红外辐射生成热分布图像,用于检测材料在超低温环境下的隔热性能、冷源泄漏和涂层均匀性,适用于航天材料、冷链包装和特种涂层的质检。
    仪器选型
    选择时关注探测器类型需适应深低温范围,测温精度满足±1℃以内,空间分辨率匹配微小缺陷识别,镜头配置覆盖工作距离,软件具备低温校准和数据分析功能,设备需通过相关行业标准验证。

    术语

    标准

    检测仪器

    测量范围0-40000W/m²,光谱响应1000-1700nm,可自动计算并显示红外阻隔率,感光孔径10mm,适用于多种红外光源和隔热材料的性能测试。

    ¥ 470.00

    采用氧化钒非制冷红外焦平面探测器,测温分辨率达0.1℃,具备56°×42.2°视场角和免调焦设计,支持中心点测温和冷热点自动追踪功能。

    ¥ 2199.00

    测试温度范围-40℃至+150℃,温度转换时间仅10秒,采用PID全数位元自动控制系统,可快速检测材料在极高温低温连续环境下的耐受性及热胀冷缩变化。

    ¥ 106770.00

    采用三槽式断热结构,风门切换时间10秒内完成,温度恢复时间5分钟内。具备96个试验规范设定,最大冲击时间9999分钟,满足高低温急速变化测试需求。

    ¥ 172000.00

    配备红外传感器和热敏探头双测量模式,响应时间仅1秒,光学系数3:1,支持-40~150℃宽范围测温,满足不同场景的精准温度检测需求。

    ¥ 3600.00

    采用短波红外技术,测温范围200~2200℃,精度±2%,具备激光定位、数据保持和发射率可调功能,响应时间500ms,物距比80:1。

    ¥ 1449.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备热敏电阻控温系统,工作室采用304不锈钢材质,实现快速均匀加热。

    ¥ 4349.00

    采用三箱结构设计,测试样品静止于测试区,温度恢复时间≤5min,转换时间≤10s,具备高温、低温及冷热冲击三种测试功能,满足多种标准要求。

    ¥ 135000.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,实现全自动恒温控制,快速干燥且能耗较低。

    ¥ 5019.00

    采用二箱移动式冲击结构,气压驱动测试物上下移动,冷热冲击机构移动时间10秒内,温度恢复时间5分钟内,配备HFC环保冷媒和超低温冷冻系统,降温快速高效。

    ¥ 103900.00

    采用三槽式断热结构,风门切换时间10秒内完成,温度恢复时间5分钟内。具备96个试验规范设定,冲击时间可达9999分钟,循环周期9999次,满足高精度温度控制需求。

    ¥ 101000.00

    采用三槽式断热结构实现冷热风路切换,温度恢复时间5分钟内,冲击时间可达9999分钟,具备96个试验规范独立设定和自动除霜功能。

    ¥ 136000.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,实现快速低耗干燥,适用于多种样品处理。

    ¥ 5799.00

    采用二箱移动式冲击结构,温度恢复时间不超过5分钟,转换时间仅需10秒。配备硬质聚氨酯泡沫保温材料,具有超低温热传导率和防水性能,支持程序化温度控制。

    ¥ 89800.00

    采用二箱移动式结构实现动态冲击,冷热转换时间10秒内,温度恢复时间5分钟内,配备硬质聚氨酯泡沫保温材料,具备超低温热传导率和多重安全保护装置。

    ¥ 89800.00

    应用知识

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