采用平行光路设计，支持47mm厚度材料测试，可同时测量紫外线365nm、红外线940nm及可见光透过率，具备实时自校准功能，操作简单快速显示三项结果。
三合一光路设计可同时测量蓝光430nm、紫光395nm和可见光透过率，测试孔径Φ1mm适应大厚度材料，具备实时动态自校准功能确保数据精准。
三合一光路设计可同时测量四组数据，测试孔径1.3mm支持小尺寸材料检测，具有自动校准和大容量存储功能，测量精度达±2%确保结果稳定可靠。
采用1200L/mm紫外专用光栅和比例双光束设计，杂散光≤0.03%T，配备10cm样品架和自动八联池，支持波长扫描和多种测试模式。
采用1200L/mm紫外专用光栅和比例双光束设计，波长范围190~1100nm，杂散光≤0.03%T，支持自动修正波长误差和多种测试功能，确保高精度和长期稳定性。
三光源共用一个测试孔，一次测量即可获得380nm-760nm可见光、940nm红外线和365nm紫外线透过率。平行光设计可测试大厚度材料，1mm测试孔径适合小尺寸样品。
采用三合一平行光路设计，一次测量可见光、红外和紫外透过率；测试孔径1.3mm，适合小尺寸和厚材料；具有自动校准和大容量存储功能。
可同时测量紫外强度、能量和温度，光谱响应范围340nm-420nm，功率量程达40000mW/cm²，配备高温保护罩适应100℃环境，支持自动和手动两种测量模式。
采用单光束光学系统，光谱带宽4nm，波长范围200-960nm，支持透射比、吸光度和浓度直读多种工作模式，配备RS232接口可连接外部设备。
采用1200L/mm紫外专用光栅确保低杂散光和高分辨率，比例双光束设计支持多种测试功能，配备自动八联池样品架和7英寸触摸屏，波长范围190~1100nm。
采用1200L/mm紫外专用光栅和进口光电转换器，杂散光≤0.03%T，波长范围190~1100nm，具备自动修正波长误差功能，支持10cm样品架满足特殊需求。
采用360~780nm复合全光谱LED光源，配备256象元CMOS探测器，测量波长范围360~780nm，间隔10nm，实现雾度、透过率、色度等多种光学指标的精确测试。
具备喷涂和刮涂双功能，涂布速率0-5m/min可调，配备UV光固化系统，固化面积300*1000mm，支持自动张力控制和纠偏功能。
三合一光路一次测量三种波长透过率，测试孔径1mm适应小尺寸材料，平行光设计确保厚材料测量稳定，精度达±2%且分辨率0.1%。
