仪器商品分类

    机械式涂层测厚仪

    机械式涂层测厚仪通过探针接触涂层表面和基材,测量两者高度差得出厚度。用于涂料、塑料等行业的现场快速检测,操作简单但需平整表面。
    仪器选型
    选择时考虑涂层软硬匹配探针类型,基材形状选用平面或曲面型号,量程需覆盖预期厚度,环境条件决定普通或防爆设计,校准方式按精度要求选取。

    术语

    检测仪器

    采用机械测量法,测量范围0~1mm,精度≤0.005mm,分度值0.001mm,测头直径Φ5mm,适用于平面薄膜和薄片,提供两种测头压力选择。

    ¥ 1200.00

    采用机械测量法,测量范围0~1mm,精度≤0.005mm,分度值0.001mm,提供两种测头压力选择,适应不同测试需求。

    ¥ 1200.00

    机械式设计可在任何表面测量,采用加硬磨制不锈钢材质,测量盘直径50mm,厚11mm,配备铝制自由旋转滚轮,读数精度±2μm。

    ¥ 4800.00

    机械式测量可在多种基材表面进行,不锈钢测量盘直径50mm厚度11mm,结构坚固耐用,操作简单无需专业技术。

    ¥ 4800.00

    符合ISO2808-1974标准,量程0~150μm,精度不大于5μm,可测定湿膜厚度并估计干膜厚度,适用于实验室和生产控制。

    ¥ 330.00

    符合ISO2808标准,量程0~500μm,精度不大于5μm,可测定湿膜厚度并估计干膜厚度,适用于实验室和生产现场。

    ¥ 330.00

    采用不锈钢材质,厚度仅1.5mm,量程20~200μm,分刻度20μm,卡片式设计便于现场快速测量湿膜涂层厚度。

    ¥ 280.00

    采用三道轮结构设计,中心轮接触膜层直接读数,量程0-500μm分度25μm,可在平面和曲面进行无损厚度测量。

    ¥ 699.00

    采用滚轮式设计,量程范围0~500μm,不锈钢材质确保耐用性,适用于现场快速测量湿膜厚度,符合多项执行标准。

    ¥ 450.00

    提供额外一年保修期限,适用于涂层测厚仪产品,需在购买设备时同步选购,不单独售卖。

    ¥ 300.00

    采用全机械式设计,可在多种基材表面直接测量,提供5-1500微米量程范围,分刻度精度达5微米,不锈钢材质确保耐用性和测量准确性。

    ¥ 2880.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    不锈钢材质坚固耐用,量程范围50-950微米,分刻度50和100微米,外形紧凑仅65*43*1.5mm,适合现场快速测量湿膜厚度。

    ¥ 280.00

    测量范围0-12.7mm,精度达0.005mm,分度值0.001mm,测头施加力0.1-0.5N,适用于平整薄膜和薄片厚度测定。

    ¥ 2700.00

    采用机械接触式测量,分辨率达0.001mm,支持自动和手动模式,测量头自动升降减少人为误差,配置标准量块确保精度。

    ¥ 17600.00

    应用知识

    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。
    涂层测厚仪磁性法与涡流法的测量原理差异
    涂层测厚仪主要有磁性法和涡流法两种测量原理。选择方法时需根据基体材料特性决定,以确保测量准确。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。