荧光照度计

采用LED光源和45/0照测条件，测量范围0~199.9，分辨率0.1，可检测荧光增白剂并测定增白度，重复性≤0.3。

采用457nm蓝光波长测量漫反射因数，重复性达0.2，可检测荧光增白剂并计算荧光白度值，适用于多种材料表面白度分析。

采用d/0照测条件，测量范围0~199.9，可测定薄页材料不透明度，具有全自动校准和数据存储功能，稳定性和复现性高，消除系统漂移误差。

可测定蓝光漫反射因数（R457）和荧光增白度，采用d/o照明观测几何条件，测试孔直径30mm，能分析材料是否含荧光增白剂并测量多种光学系数。

采用无限远光学系统，配置平场消色差荧光物镜，微动格值2μm，粗微动同轴调焦，支持多种荧光滤光片组，适用于低照度显微图像拍摄。

采用无限远光学系统及模块化设计，配置平场消色差荧光物镜，微动格值2μm，支持多波段荧光滤光片组，操作舒适。

采用特殊密封材质提升避光性，检测结果准确稳定；底部检测设计不受角度影响，数据可靠；检测下限≤1.0 CFU/ml，重现性好，适用于痕量ATP分析。

采用特殊密封材质提升避光性，检测结果精确稳定；底部检测设计不受角度影响；检测精度达1X10-16mol ATP，检测范围0-9999 RLU，一体化便携箱式设计。

采用特殊密封材质提升避光性，检测结果准确稳定；底部检测设计不受角度影响，数据可靠；检测下限≤1.0 CFU/ml，检测时间1-60秒，一体化箱式便携。

采用表面覆膜设计，厚度0.29mm，无荧光增白剂，具备耐溶剂性和耐化学性，覆膜均匀且带有注释部分便于记录测试信息。

采用R457蓝光白度公式，测量范围0~100%，分辨率0.1，重复性≤0.3，适用于荧光增白物体和纸张不透明度测量。

采用R457白度公式，可同时测量蓝光白度和荧光增白度，重复性≤0.3，工作温度5~35℃，光路设计简洁保证测量准确性和重复性。

采用CMOS集成电路设计，配备节能环形荧光灯侧照明，计数器容量0~999，可自动计数并着色标记菌落，减轻实验人员劳动强度。

采用360°旋转工作台和60°照射角度的20W日光灯，有效检测面积0.0625㎡，可对照0.05~5.0mm²标准尘埃图进行精确分析。

采用粗微动同轴调焦机构，微动格值达2μm，配备100W高压汞灯荧光落射照明和6V 20W卤素灯透射照明，支持B激发光波段420~485nm和G激发光波段460~550nm。