仪器商品分类

    破坏式涂层测厚仪

    破坏式涂层测厚仪通过切割涂层至基材,用显微镜测量切口宽度换算厚度。用于实验室检测涂料、油墨等覆盖层厚度,确保符合标准。
    仪器选型
    选择时考虑涂层类型与基材硬度匹配仪器切割能力,测量范围覆盖样品厚度,操作简便性满足日常使用需求,精度符合行业检测要求。

    术语

    检测仪器

    采用光热法实现非接触无损测量,测量范围0-300μm,精准度±3%,可测量任意形状样品包括边框和边缘部位。

    ¥ 154645.00

    采用磁性测厚方法,测量范围0-1250μm,误差±3%,具备连续和单次两种测量模式,可存储1560个测量数据,支持多种校准方式。

    ¥ 1080.00

    该设备采用破坏式测量,分辨率±0.001mm,可进行V形切口、格阵割划和压痕测试,直接观察涂层厚度与压痕长度,支持多层膜分析。

    ¥ 3450.00

    采用涡流测厚方法,测量范围0-1250μm,误差±3%,具有连续和单次两种测量模式,支持1560个数据存储和多种统计功能。

    ¥ 1080.00

    采用钛和铝材质制成,配备不锈钢切刀和LED照明显微镜,测量范围20-2000μm,独特的旋转系统包含多个切刀,可精确测量涂层厚度并评估基材缺陷。

    ¥ 1378.00

    设备提供线棒和可调刮刀两种涂布方式,涂布厚度范围0~10mm,涂布速率5~180mm/s,支持定制涂布幅面500*1000mm,适用于多种基材。

    ¥ 50000.00

    采用楔形切割法直接测量涂层厚度,配备50倍放大显微镜可读取1/100格精度,支持多层涂层系统分层测量,重量仅400克便于现场操作。

    ¥ 8999.00

    采用双刀刃设计,测量范围10-1000μm,配备LED照明显微镜和旋转系统,可精确评估基材和涂层缺陷,减少计算需求。

    ¥ 1399.00

    采用破坏式测量原理,配备50倍带刻度显微镜和旋转切割系统,测量范围覆盖2-1800微米,可在自然光环境下实现精准聚焦观测。

    ¥ 11448.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    ¥ 520.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用超声波测量原理,测量范围50~3800μm,精度±(2μm+3%),适用于混凝土和玻璃纤维等基材的涂层厚度检测。

    ¥ 17760.00

    采用挤压式生产工艺,湿膜厚度6微米,精度达0.5微米,清洗方便且无断丝之忧,确保涂层制备的精准和耐用。

    ¥ 288.00

    测量厚度达25mm,误差仅±3%,采用可移动FJS探头,适用于厚保护涂层基材,具备统计功能和250000个数据存储能力。

    ¥ 12650.00

    采用挤压式生产工艺,涂布量约为绕丝涂布棒的两倍,湿膜厚度13μm,涂膜精度达到0.5微米,材质为304不锈钢。

    ¥ 288.00

    应用知识

    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。
    涂层测厚仪磁性法与涡流法的测量原理差异
    涂层测厚仪主要有磁性法和涡流法两种测量原理。选择方法时需根据基体材料特性决定,以确保测量准确。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。