测量范围0~1500μm，精度±(5μm+5%)，测针端角度60度，适用于表面轮廓测量，带线设计方便连接使用。
一体设计可同时测量粗糙度、波纹度和轮廓度，无需更换测头；采用高精度光栅系统，X轴定位光栅分辨率达0.1μm，配备精密直线导轨确保测量稳定性。
采用电容式高分子薄膜湿度传感器和半导体温度传感器，具有温度补偿和非线性修正功能，可存储8000组数据，支持USB连接和自动计算平均值、最大值及最小值，体积小巧便于携带。
提供25、40、70、100四种剖面规格，尺寸87x87x2.5mm，重量仅60克，便携式设计方便现场快速比对评估。
配备7寸IPS工业触控屏和32位高速MCU，测量精度达0.2℃，支持64个文件存储和多种热电偶输入，通道间隔离电压高达350V，确保稳定可靠的数据采集。
分体式结构设计，测量范围达0~1500μm，精度±(5μm+5%)；采用氧化铝耐磨面和碳化钨测针，支持100000个读数存储和无线数据传输功能。
采用32位高速MCU和24位AD芯片，测量精度0.2℃+2字，支持高达64通道扩展和350V通道隔离，具备多界面显示和U盘导出功能。
配备7寸IPS工业级触控屏，支持40通道独立测量，基本精度0.2℃+2字，通道间隔离电压高达350V，模块化设计可扩展至64通道。
配备5寸854×480高清触控屏，支持64通道独立温度采集，采用32位MCU与24位AD芯片确保0.2℃精度，具备13万组数据存储和97天连续记录能力，通道间耐压350V抗干扰。
配备7寸IPS工业触控屏和32位高速MCU，测量精度0.2℃，支持高达64通道扩展，具备多界面显示和独立误差修正功能，抗干扰强。
配备7寸1024×600分辨率IPS工业屏，采用32位MCU+24位AD芯片实现0.2℃测量精度，支持64文件存储且单文件13万组数据，通道间耐压AC/DC 350V。
采用圆形轨迹自动连续记录涂膜干燥过程，配备4种规格划针可选，轨迹直径100mm，测量误差±0.5%，可直观分析各干燥阶段状态。
采用复制胶带法测量表面粗糙度，峰值测量范围20~115μm，精度±5μm，具备自动减去基板功能，防护等级高，可防溶剂和水尘。
分体式探头便于接近狭窄区域，测量速度每分钟超50个读数，存储容量250组数据。氧化铝耐磨面和碳化钨测针确保长寿命，内置温度补偿保证精度。
配备32位高速MCU和24位AD芯片，采样速度达0.1秒，通道间耐压AC/DC 350V。内置8G内存支持13万组数据存储，多界面显示和独立报警设置满足精密测温需求。
