配备50mm超大测试孔径，特别适合表面不均匀物体测量；标准偏差△E*ab≤0.03，具有超高重复性；可显示光谱反射率曲线，提供专业颜色数据。
采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列，光学分辨率小于10nm，可同时测量SCI/SCE光谱，重复性ΔE*ab 0.03以内，支持双口径切换和摄像头定位。
采用双阵列256像元CMOS探测器及500万次寿命LED光源，测试波长范围360-780nm，支持三种测量口径自动切换，内置温度监控补偿确保数据准确。
具备8mm/4mm双测量口径，可切换适应不同表面；重复性ΔE*ab 0.06以内，确保测量准确性；集成摄像头定位和自动白板校验，操作便捷高效。
采用双光路阵列传感器确保测量稳定性，配备摄像头辅助定位系统，支持Φ8mm/Φ4mm双口径切换，重复精度△E*ab≤0.03，集成多种颜色空间和标准光源。
采用硅光电二极管阵列和双32组感应器，重复性ΔE*ab控制在0.05以内，支持Φ4/8mm双测量口径，适应多种表面，确保测量稳定高效。
采用45/0环形照明几何结构，配备Φ8mm和Φ4mm双测量口径，色度值重复性ΔE*ab 0.03以内，支持荧光样品测量及多种色差公式计算。
采用d/8照明方式和6mm测量口径，具备400~700nm波长范围及2.5秒快速测量，重复精度△E<0.07，支持多种颜色空间和光源模式。
采用硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.06以内，配备8mm测量口径，支持摄像头取景定位，确保测量准确高效。
采用凹面光栅分光方式，配备256像元双阵列CMOS探测器，测量时间约1.5秒，色度值重复性ΔE*ab 0.03以内，支持荧光样品测量和多行业应用。
具备8mm/4mm双测量口径，可切换适应不同表面；采用LED蓝光激发光源，重复性达ΔE*ab 0.06以内；支持摄像头取景定位和自动白板校验，操作便捷高效。
采用45/0几何光学结构，配备Φ20mm测量口径和凹面光栅分光，可准确测量反射率及色度数据，具有高稳定性和重复性，适合条纹或颗粒状样品。
三光源共用一个测试孔，一次测量即可获得380nm-760nm可见光、940nm红外线和365nm紫外线透过率。平行光设计可测试大厚度材料，1mm测试孔径适合小尺寸样品。
