仪器商品分类

    木材涂层测厚仪

    木材涂层测厚仪通过磁感应或涡流原理,无损测量木材表面漆膜、涂料厚度。用于检测家具、地板等木制品涂层均匀性,确保符合工艺标准。

    检测仪器

    采用超声波测量原理,测量范围13~1000μm,精度±(2μm+3%),适用于木材、塑料等基材上的聚合物涂层厚度检测。

    ¥ 15980.00

    提供额外一年保修期限,适用于涂层测厚仪产品,需在购买设备时同步选购,不单独售卖。

    ¥ 300.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    ¥ 520.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用三刀刃设计,测量范围为5-500μm,配备LED照明显微镜和旋转系统,可精确评估涂层厚度和基材缺陷。

    ¥ 1378.00

    支持多涂层体系测量,最多可测3个涂层厚度,测量范围13~1000μm,误差±(3%H+2)μm,具有100000个数据存储容量和多种数据输出方式。

    ¥ 21000.00

    提供专业校准服务确保测量精度,适用于质量控制和设备维护,需与涂层测厚仪一同购买。

    ¥ 500.00

    采用四个不锈钢刀刃,测量范围2-200μm,配备LED显徽镜和独特旋转切割系统,可精确测量涂层厚度并评估基材缺陷。

    ¥ 1378.00

    采用超声技术实现无损测量,测量范围13~1000μm,精度±3%,支持多涂层系统分析,具备防风雨防护和多种数据传输方式。

    ¥ 17240.00

    采用钛和铝材质制成,配备不锈钢切刀和LED照明显微镜,测量范围20-2000μm,独特的旋转系统包含多个切刀,可精确测量涂层厚度并评估基材缺陷。

    ¥ 1378.00

    采用超声波测量原理,测量范围50~3800μm,精度±(2μm+3%),适用于混凝土和玻璃纤维等基材的涂层厚度检测。

    ¥ 17760.00

    测量厚度达25mm,误差仅±3%,采用可移动FJS探头,适用于厚保护涂层基材,具备统计功能和250000个数据存储能力。

    ¥ 12650.00

    采用超声技术无损测量,最多可测量3层涂层系统,测量范围50~3800μm,误差±3%,具备防风雨设计和高容量数据存储功能。

    ¥ 22620.00

    采用超声技术实现无损测量,测量范围13-1000μm,精度±3%,具备防风雨设计,支持多层涂层系统分析,数据存储容量达10万个测量值。

    ¥ 21000.00

    采用磁感应和电涡流原理同时测量复合涂层,测量范围0~1500μm,误差±1%,可显示单个涂层和锌层厚度,适用于铁质和非铁质底材的精确检测。

    ¥ 9600.00

    应用知识

    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    拉力试验机测试木材胶合板胶合强度
    这篇文章介绍了使用拉力试验机测试木材胶合板胶合强度的方法。测试通过拉伸胶合板试样,测量胶合界面的强度,遵循国家标准如GB/T 17657-2013。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。
    涂层测厚仪磁性法与涡流法的测量原理差异
    涂层测厚仪主要有磁性法和涡流法两种测量原理。选择方法时需根据基体材料特性决定,以确保测量准确。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。