采用45°/0°照明方式和全光谱LED光源，测量口径Φ8mm，标准偏差ΔE*ab在0.03以内，重复性好；内置补偿光路确保数据稳定，无需频繁校准，体积小巧如口红，携带方便。
具备多功能聪明按键设计，支持30多种颜色指标和28种观测光源，采用非接触式自动白板校验技术，台间差ΔE*00小于0.2，测量稳定性高，便携轻巧仅88克。
配备3.5英寸触摸屏，重复性△E*ab≤0.03，测量精度0.01，内置多本电子色卡，支持多种色差公式和颜色空间，便于快速颜色匹配和对比。
仪器台间差小于0.2，测量精度达0.01，支持自动校准、磁吸座充和触摸操作，配备11mm/6mm/1*3mm口径切换及UV切换功能，实现多台设备数据一致性。
采用D/8测量结构，可同时进行SCI和SCE测试，配合立式设计便于定位，能精确测量平面及曲面样品，并具备超大容量内存与长续航电池。
采用D/8测量结构，可同时进行SCI和SCE测试，重复性小于0.03ΔE*ab，配备大尺寸彩色触控屏和摄像定位功能，适用于平面及曲面样品测量。
采用D/8照明系统，台间差ΔE*00<0.2，配备非接触式自动白板校验技术，确保测量准确性，锂电池支持12000次连续测试。
采用45°环形照明结构，减少纹路影响，兼容60°光泽测量，重复性ΔE*ab 0.03，内置高灵敏度传感器，适用于磨砂和纹理材料表面。
采用分光测量方案，一次完成颜色、色差、全反光率测试。d/8测量结构支持SCI和SCE，重复性<0.02ΔE*ab，适用于曲面样品测量。
采用D/8测量结构，可同时进行SCI和SCE测试，重复性小于0.03ΔE*ab，配备大尺寸触控屏和超大容量锂电池，支持USB和WIFI通讯。
采用双40阵列传感器和D/8结构，支持SCI/SCE同时测量，测试时间约3.2秒，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，适用于荧光样品和多种颜色空间分析。
采用D/8测量结构，可同时进行SCI和SCE测试，测量重复性小于0.03ΔE*ab，立式设计便于快速定位测量区域，适用于平面和曲面样品。
采用45°/0°照明方式，测量面积约Φ10mm，重复性标准偏差在ΔE*ab 0.5内，支持多种色彩空间显示和统计功能，轻便易用。
采用D/8测量结构，支持SCI和SCE双模式，重复性小于0.02ΔE*ab，立式设计便于定位，可测平面和曲面样品，配备大容量电池和触控屏。
采用45°环形照明和0°观察角结构，有效排除纹理表面镜面光干扰。内置光泽传感器实现同步测量，分光反射率重复性标准偏差0.08%以内，适用于磨砂和纹理材料。
