采用双阵列256像元CMOS探测器，测量波长范围360~780nm，支持反射和透射测量，四种口径自动切换，内置温度监控及补偿，确保颜色数据精准稳定。
采用凹面光栅分光原理，反射率重复性标准偏差0.1%以内，支持SCI/SCE同时测量及四种UV模式切换，内置摄像头定位和超1000万条数据存储。
采用双阵列256像元CMOS探测器及500万次寿命LED光源，测试波长范围360-780nm，支持三种测量口径自动切换，内置温度监控补偿确保数据准确。
配备7英寸电容触摸屏和三种自动识别测量口径，采用凹面光栅分光技术，波长范围360-780nm，支持反射和透射测量，内置温度监控确保数据准确性。
仪器采用双阵列256像元CMOS探测器及4颗脉冲氙灯，测量波长范围360~780nm，支持Φ25.4/15/8/4mm四种口径自动切换，内置温度监控和补偿确保测量准确性。
具备7英寸TFT电容触摸屏，测试波长范围360~780nm，支持四种测量口径自动切换，内置温度监控补偿，确保测量结果准确稳定。
透射面均匀度超过90%，标配四档色温可调，照度调节范围0-120000Lux，配备粗细调光旋钮实现精准控制，光源无频闪且寿命达10000小时以上。
采用分体式结构可扩展探头电缆，探头面为耐磨铝合金，支持高温和粗糙表面测量，分辨率达0.1μm，数据存储250000个测量值。
采用d/8照明接收方式，波长范围400~700nm，重复性δu(Y)≤0.5，可显示光谱曲线并支持多种表色系统，便于色彩分析。
采用DSP芯片实现快速数据处理，支持多参数测量如Ra、Rz等，配备TYPE C和蓝牙接口便于数据传输，连续工作时间超过20小时，存储100组数据。
配备7种冲击装置并自动识别，支持6种硬度制式相互转换及与抗拉强度转换，嵌入式热敏打印机及时输出报告，蓝牙传输数据，可存储100组测试数据。
采用粗微动同轴调焦机构，微动格值2μm，配置落射与透射两套照明系统，可分别观察不透明和透明样品，三目镜筒可切换偏光观察。
具备5000V输出电压和1000GΩ测量范围，支持极化指数测试和USB数据传输，背光显示便于在昏暗环境下读取测量结果。
采用漫透射测量原理，光密度测量范围达6.000 OD，精度±0.02 OD，配备固定座和支架，支持两种测量方式，适用于半透明材料测试。
