仪器商品分类

    光谱膜厚仪

    光谱膜厚仪利用白光干涉原理,通过分析薄膜表面反射光谱的干涉条纹周期,计算薄膜厚度。用于测量透明或半透明薄膜的厚度,在光学镀膜、半导体和显示屏制造中应用。
    仪器选型
    选择光谱膜厚仪需考虑测量范围覆盖样品厚度,精度满足工艺要求,支持薄膜类型如单层或多层,具备基材校准功能,仪器稳定性适应生产环境,操作界面符合使用习惯。

    标准

    检测仪器

    符合ISO2808-1974标准,量程0~150μm,精度不大于5μm,可测定湿膜厚度并估计干膜厚度,适用于实验室和生产控制。

    ¥ 330.00

    符合ISO2808标准,量程0~500μm,精度不大于5μm,可测定湿膜厚度并估计干膜厚度,适用于实验室和生产现场。

    ¥ 330.00

    采用不锈钢材质,厚度仅1.5mm,量程20~200μm,分刻度20μm,卡片式设计便于现场快速测量湿膜涂层厚度。

    ¥ 280.00

    采用三道轮结构设计,中心轮接触膜层直接读数,量程0-500μm分度25μm,可在平面和曲面进行无损厚度测量。

    ¥ 699.00

    采用滚轮式设计,量程范围0~500μm,不锈钢材质确保耐用性,适用于现场快速测量湿膜厚度,符合多项执行标准。

    ¥ 450.00

    采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源,测量波长范围400-700nm,台间差ΔE*ab<0.4,自动白板校验确保数据准确可靠。

    ¥ 2980.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    不锈钢材质坚固耐用,量程范围50-950微米,分刻度50和100微米,外形紧凑仅65*43*1.5mm,适合现场快速测量湿膜厚度。

    ¥ 280.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    采用机械测量法,测量范围0~1mm,精度≤0.005mm,分度值0.001mm,测头直径Φ5mm,适用于平面薄膜和薄片,提供两种测头压力选择。

    ¥ 1200.00

    采用三道轮结构设计,中心轮接触膜层直接读取厚度,量程0-100μm,分度值5μm,可在平面和曲面进行无损测量。

    ¥ 699.00

    采用精密不锈钢材质制造,具备50~950μm量程范围,10个阶齿设计可精确测量湿膜厚度,确保涂装质量并避免材料浪费。

    ¥ 220.00

    采用不锈钢材质,量程范围10~100μm,分刻度10μm,外形尺寸65*36*1.5mm,适用于色漆、清漆等涂料涂层厚度测量。

    ¥ 280.00

    采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源,测量波长范围400-700nm,重复性ΔE*ab 0.04以内,自动白板校验确保数据准确可靠。

    ¥ 2680.00

    测量范围0-20mm,精度0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于纸张、纸板及片状材料厚度检测,符合多项国际标准。

    ¥ 2030.00