光谱膜厚仪

符合ISO2808-1974标准，量程0~150μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产控制。

符合ISO2808标准，量程0~500μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产现场。

采用不锈钢材质，厚度仅1.5mm，量程20~200μm，分刻度20μm，卡片式设计便于现场快速测量湿膜涂层厚度。

采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源，测量波长范围400-700nm，台间差ΔE*ab<0.4，自动白板校验确保数据准确可靠。

采用三道轮结构设计，中心轮接触膜层直接读数，量程0-500μm分度25μm，可在平面和曲面进行无损厚度测量。

采用滚轮式设计，量程范围0~500μm，不锈钢材质确保耐用性，适用于现场快速测量湿膜厚度，符合多项执行标准。

提供额外一年保修期限，适用于涂层测厚仪产品，需在购买设备时同步选购，不单独售卖。

专用于涂层测厚仪校准，确保厚度测量准确，适用于F型设备，提升检测可靠性。

不锈钢材质坚固耐用，量程范围50-950微米，分刻度50和100微米，外形紧凑仅65*43*1.5mm，适合现场快速测量湿膜厚度。

采用磁感应原理，测量范围0~1250μm，适配leeb220和leeb222涂层测厚仪，耐磨性好，适用于多种非磁性涂层厚度检测。

采用机械测量法，测量范围0~1mm，精度≤0.005mm，分度值0.001mm，测头直径Φ5mm，适用于平面薄膜和薄片，提供两种测头压力选择。

采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源，测量波长范围400-700nm，重复性ΔE*ab 0.04以内，自动白板校验确保数据准确可靠。

采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源，测量波长范围400-700nm，重复性ΔE*ab 0.035以内，支持自动白板校验和多种颜色空间，人体工程学设计便于连续检测。

采用三道轮结构设计，中心轮接触膜层直接读取厚度，量程0-100μm，分度值5μm，可在平面和曲面进行无损测量。

采用CMOS双路分光传感器，重复性ΔE*ab 0.03以内，配备Φ8mm/Φ10mm和Φ4mm/Φ5mm双测量口径，支持自动白板校验和多种颜色空间，内置摄像头精准定位。