采用偏振光干涉原理，配备1/4波片补偿方法，光程差测定范围0-589.44nm，测量精度±4nm，可同时实现定性观察和定量分析。
采用偏振光干涉原理，配备560nm全波片，可定性或半定量测量内应力，检偏镜通光口径达150mm，支持连续快速分析透明材料。
采用偏振光干涉原理，配备560nm全波片，检偏镜通光口径达150mm，可快速连续分析透明材料内应力，支持定性或半定量测量。
具备透反射两种照明型式，支持明场和偏光观察；配备500万像素数字CMOS摄像机，实现自动对焦和实时视频录制；放大倍数40X-1600X，采用无限远光学系统。
配备9.7寸安卓平板成像系统，支持单偏光、正交偏光和锥光观察，配置石膏λ片和石英楔子等补偿器，聚光镜数值孔径1.30，移动尺行程30×40mm。
配备无限远光学系统和500万像素CMOS摄像头，支持单偏光、正交偏光及锥光观察，转换器四孔设计，聚光镜数值孔径1.25，满足高精度晶体结构研究需求。
提供单偏光、正交偏光和锥光观察，总放大倍数40X~1000X，采用粗微动同轴调焦系统，微调精度达0.01mm，内置调光高亮度LED灯。
采用无限远光学系统，配置无应力平场物镜，微动格值达2μm，旋转载物台带360°刻度，支持三目观察与显微摄影，工作台垂直行程30mm。
配备双目观察头和四孔物镜转换器，总放大倍数40X-1000X，支持360°旋转载物台和同轴粗微调焦系统，适用于双折射性物质的结构分析。
采用D/8照明系统，台间差ΔE*00<0.2，配备非接触式自动白板校验技术，确保测量准确性，锂电池支持12000次连续测试。
采用无限远光学系统及模块化设计，配置无应力长工作距离平场物镜，微动格值2μm，旋转载物台带360°刻度，支持偏光观察装置灵活移入移出光路。
