采用偏振光干涉原理,配备1/4波片补偿方法,光程差测定范围0-589.44nm,测量精度±4nm,可同时实现定性观察和定量分析。
采用偏振光干涉原理,配备560nm全波片,可定性或半定量测量内应力,检偏镜通光口径达150mm,支持连续快速分析透明材料。
采用偏振光干涉原理,配备560nm全波片,检偏镜通光口径达150mm,可快速连续分析透明材料内应力,支持定性或半定量测量。
具备透反射两种照明型式,支持明场和偏光观察;配备500万像素数字CMOS摄像机,实现自动对焦和实时视频录制;放大倍数40X-1600X,采用无限远光学系统。
配备9.7寸安卓平板成像系统,支持单偏光、正交偏光和锥光观察,配置石膏λ片和石英楔子等补偿器,聚光镜数值孔径1.30,移动尺行程30×40mm。
配备无限远光学系统和500万像素CMOS摄像头,支持单偏光、正交偏光及锥光观察,转换器四孔设计,聚光镜数值孔径1.25,满足高精度晶体结构研究需求。
采用无限远光学系统,配置无应力平场物镜,微动格值达2μm,旋转载物台带360°刻度,支持三目观察与显微摄影,工作台垂直行程30mm。
配备双目观察头和四孔物镜转换器,总放大倍数40X-1000X,支持360°旋转载物台和同轴粗微调焦系统,适用于双折射性物质的结构分析。
采用D/8照明系统,台间差ΔE*00<0.2,配备非接触式自动白板校验技术,确保测量准确性,锂电池支持12000次连续测试。
采用无限远光学系统及模块化设计,配置无应力长工作距离平场物镜,微动格值2μm,旋转载物台带360°刻度,支持偏光观察装置灵活移入移出光路。