仪器商品分类

    胶皮涂层测厚仪

    胶皮涂层测厚仪通过磁感应或涡流原理,探头接触涂层产生电磁场变化计算厚度。用于测量橡胶、塑料基材上的涂层厚度,在轮胎、胶辊生产中进行质量控制。
    仪器选型
    选择时考虑基材类型匹配测量原理,磁感应适用铁基、涡流适用非铁基。确认量程覆盖样品厚度范围,探头尺寸适应被测曲面。关注仪器校准方式和环境抗干扰能力。

    术语

    检测仪器

    提供额外一年保修期限,适用于涂层测厚仪产品,需在购买设备时同步选购,不单独售卖。

    ¥ 300.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    ¥ 520.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    压针行程0-1.25mm,测量误差±1HAM,压针端部压力324-764mN,适用于厚度1.5mm以上薄橡胶试样,可配合定负荷测定架使用。

    ¥ 6500.00

    测量厚度达25mm,误差仅±3%,采用可移动FJS探头,适用于厚保护涂层基材,具备统计功能和250000个数据存储能力。

    ¥ 12650.00

    提供专业校准服务确保测量精度,适用于质量控制和设备维护,需与涂层测厚仪一同购买。

    ¥ 500.00

    测量范围0-20mm,精度0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于纸张、纸板及片状材料厚度检测,符合多项国际标准。

    ¥ 2030.00

    测量厚度高达25mm,误差仅±3%,配备可移动FJS探头,适用于厚保护涂层测量,支持1000个数据存储和统计功能。

    ¥ 9440.00

    测量铁质金属上非磁性涂层,厚度范围0-6000μm,精度±3%,内置探头单手操作,防护等级IP65,每分钟60多个读数。

    ¥ 5880.00

    测量范围0~12.7mm,分辨率达0.001mm,接触压力20±0.5Kpa确保测量稳定性,适用于各类薄片材料厚度检测。

    ¥ 2910.00

    压针行程0-1.25mm,测量误差±1HAM,适用于厚度1.5mm以上薄橡胶样品,灵敏度高,需配合定负荷测定架使用确保准确度。

    ¥ 5250.00

    采用磁感应原理测量,厚度范围0~1000μm,误差±3%,具备低电压提示功能,支持分体探头和定制量程,适应不同曲率基体测量需求。

    ¥ 1050.00

    采用超声波测量原理,测量范围50~3800μm,精度±(2μm+3%),适用于混凝土和玻璃纤维等基材的涂层厚度检测。

    ¥ 17760.00

    采用超声波测量原理,测量范围13~1000μm,精度±(2μm+3%),适用于木材、塑料等基材上的聚合物涂层厚度检测。

    ¥ 15980.00

    适用于中等偏硬弹性体、橡胶或微孔材料,测量范围0-100HE,更适合较薄或有曲面的试样,可手持或配套台架使用。

    ¥ 680.00

    应用知识

    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。
    涂层测厚仪磁性法与涡流法的测量原理差异
    涂层测厚仪主要有磁性法和涡流法两种测量原理。选择方法时需根据基体材料特性决定,以确保测量准确。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。