仪器商品分类

    x光射线探伤仪

    X光射线探伤仪利用X射线穿透物体,内部缺陷吸收射线程度不同,探测器接收差异信号成像。用于检测材料内部裂纹、气孔等缺陷,在工业无损检测中确保产品质量。
    仪器选型
    选择时考虑检测物体材质厚度匹配射线能量,空间分辨率满足缺陷识别需求,操作安全性符合防护标准,设备稳定性和维护成本适应使用环境。

    检测仪器

    三目设计支持实时视频观察和数字化成像,配备高分辨率摄像头,可录制回放视频,具备自动对焦和对比度调节功能,光学放大范围40X-1600X。

    ¥ 2730.00

    采用漫透射光路设计,光密度测量范围0.00-6.00 OD,透光率精度±2%,可同时测量透光率、绝对光密度、相对光密度和网点面积率。

    ¥ 3718.00

    采用相衬技术提升透明样本细节可见度,光学放大40X-1600X,配备1.25相衬聚光镜和可调照明,符合人体工程学设计减轻长时间使用疲劳。

    采用无限远光学系统,配备40X-1000X放大范围和N.A.1.25阿贝聚光镜,支持数字化观察和多种辅助设备扩展。

    ¥ 12310.00

    采用无限远光学系统,支持40X-1000X放大范围,配备500万像素CMOS摄像机和同轴调焦机构,可连接垂直照明和荧光装置扩展功能。

    ¥ 10440.00

    采用无限远光学系统,配备相衬聚光镜和500万像素CMOS摄像机,支持40X-1600X放大观察,具备几何测量分析功能。

    ¥ 19050.00

    采用无限远光学系统,支持多种观察方式,配备六孔物镜转换器和N.A.1.1阿贝聚光镜,放大倍数40X-1000X,操作简便灵活。

    ¥ 64300.00

    无限远光学系统提供高分辨率图像,配备六孔物镜转换器和N.A.1.1阿贝聚光镜,支持自动对焦和多种观察方式,放大倍数40X-1000X。

    ¥ 71800.00

    采用无限远光学系统,支持40X-1600X放大范围,配备阿贝聚光镜和同轴调焦机构,可实现高分辨率实时观察和数字存储功能。

    ¥ 7060.00

    采用无限远光学系统提高成像质量,工作距离长达20mm,支持多种观察方法,放大倍数40X-1000X,满足不同实验需求。

    ¥ 4420.00

    配备5英寸触控屏和安卓系统,支持60倍/200倍放大及自动对焦,CMOS传感器实现微米级精度测量,内置LED光源和磁吸支架便于复杂环境操作。

    ¥ 6900.00

    采用无限远光学系统,配备相衬聚光镜和可变光栏,放大倍数40X-1600X,支持相衬物镜和明场观察,可扩展荧光等辅助装置。

    ¥ 13420.00

    配备UIS无限远光学系统,支持相衬观察和暗视场功能,放大倍数40X-1600X,采用6V/20W卤素灯柯勒照明,可扩展荧光和垂直照明装置。

    ¥ 20920.00

    具备0.1~200000 Lux宽量程,支持Lux和FC双单位测量,带有最大值保持和低电压指示功能,结构紧凑便携。

    ¥ 2500.00

    具备Lux和FC双单位测量,测量范围0.01-20000Lux,支持蓝牙数据传输和最大值保持功能,结构紧凑便于携带。

    ¥ 2800.00