采用磁性和涡流两种测厚方法，测量范围0-1250μm，具备自动识别铁基与非铁基体功能，支持单点和两点校准，具有电源欠压指示和统计功能。
采用磁性法测量原理，厚度范围0-3000μm，误差±3%，具有分体探头结构，支持单次和连续测量模式，配备RS-232C接口。
采用磁感应和电涡流两种测量方法，覆盖0-1500μm范围，分辨率达0.1μm，支持连续和单次测量模式，具备统计功能和500组数据存储，适用于不同曲率半径和基体厚度场景。
采用磁感应测厚原理，测量范围0~1250微米，适配leeb242机型，可连接打印机输出数据，适用于磁性金属基体上的非磁性涂层厚度检测。
采用磁感应原理测量，厚度范围0~1000μm，误差±3%，具备低电压提示功能，支持分体探头和定制量程，适应不同曲率基体测量需求。
采用磁感应原理实现0-6000μm大量程测量，误差仅±3%。具备连续单次双测量模式，支持四点统计功能，大容量存储2000组数据，自动识别基体材质。
采用磁感应和电涡流双测厚方法，测量范围0-1500μm，分辨率0.1μm，支持连续和单次测量，具有统计功能和500组数据存储。
采用磁感应和涡流双测厚方法，测量范围0-1250μm，误差±3%，自动识别铁基与非铁基体，具备统计功能和欠压指示，操作便捷。
采用机械测量法，测量范围0~1mm，精度≤0.005mm，分度值0.001mm，测头直径Φ5mm，适用于平面薄膜和薄片，提供两种测头压力选择。
采用优质合金钢刮刀，硬度高且耐磨耐腐蚀，湿膜厚度调节范围0-4500μm，磁吸式设计便于快速更换和清洗，微分头精度达±2μm确保涂膜均匀性。
采用磁感应和电涡流双原理，测量范围0-1500μm，具备温度补偿功能，支持连续快速和高精度测量模式，可存储500组数据并自动过滤异常值。
采用磁感应方法，测量范围0~2000μm，误差±5%，分辨率0.1μm，支持分体探头和低电压提示，适用于多种涂层类型。
