采用三合一平行光路设计，一次测量可见光、红外和紫外透过率；测试孔径1.3mm，适合小尺寸和厚材料；具有自动校准和大容量存储功能。
采用平行光路设计，支持47mm厚度材料测试，可同时测量紫外线365nm、红外线940nm及可见光透过率，具备实时自校准功能，操作简单快速显示三项结果。
采用平行光路设计可测量100mm厚度材料，精度±1%，分辨率达0.001%，支持现场和固定工位两种测量模式，适用多种光学材料检测。
三合一光路一次测量三种波长透过率，测试孔径1mm适应小尺寸材料，平行光设计确保厚材料测量稳定，精度达±2%且分辨率0.1%。
可同时测量紫外辐照强度和阻隔率，光谱响应260-380nm，功率量程0-40000uW/cm²，自动换算阻隔率并直接显示，便携式设计使用方便。
采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源，重复性ΔE*ab 0.035以内，台间差ΔE*ab<0.35，配备Φ4mm/Φ5mm双测量口径，支持多种颜色空间和观测光源。
三光源共用一个测试孔，一次测量即可获得380nm-760nm可见光、940nm红外线和365nm紫外线透过率。平行光设计可测试大厚度材料，1mm测试孔径适合小尺寸样品。
最小测试孔径0.5mm，三光源共用一个测试孔，一次对孔可获取550nm、850nm、940nm三种透过率数据，实时动态自校准功能，测试精度±2%。
开放式测量区域支持垂直测量，厚度≤145mm样品兼容，雾度重复性≤0.05%，提供透过率补偿测量和丰富夹具，适应不同形态样品。
采用三合一光路设计，一次对孔可同时测量三种波长透过率。配备1mm测试孔径和自动校准功能，支持850nm/940nm红外及550nm可见光测量，精度达±2%。
三合一光路设计可同时测量蓝光430nm、紫光395nm和可见光透过率，测试孔径Φ1mm适应大厚度材料，具备实时动态自校准功能确保数据精准。
便携式设计采用电池供电，支持紫外光、可见光和红外光透光率测量，精确度达±2%，配备可旋转传感器满足多角度测试需求。
采用360~780nm复合全光谱LED光源，配备256象元CMOS探测器，测量波长范围360~780nm，间隔10nm，实现雾度、透过率、色度等多种光学指标的精确测试。
