采用D/8结构贴合人眼观察，内置高精度光谱传感器捕捉400-700nm波长光线，快速将光信号转化为精准数字色彩信息。
采用三合一平行光路设计，一次测量可见光、红外和紫外透过率；测试孔径1.3mm，适合小尺寸和厚材料；具有自动校准和大容量存储功能。
采用360~780nm复合全光谱LED光源，配备256像元CMOS探测器和凹面光栅，实现10nm间隔光谱采集，支持微量透射测量和多种光学指标测试。
采用平行光路设计，支持47mm厚度材料测试，可同时测量紫外线365nm、红外线940nm及可见光透过率，具备实时自校准功能，操作简单快速显示三项结果。
采用平行光路设计可测量100mm厚度材料，精度±1%，分辨率达0.001%，支持现场和固定工位两种测量模式，适用多种光学材料检测。
三合一光路一次测量三种波长透过率，测试孔径1mm适应小尺寸材料，平行光设计确保厚材料测量稳定，精度达±2%且分辨率0.1%。
采用45°/0测量结构，覆盖400-700nm光谱范围，测量速度快至0.3秒，重复性△≤0.05，数据稳定可靠。
采用差分光谱引擎与双光路设计，传感器进光量提升50%，光谱分辨率提升30%。台间一致性可达dE*ab≤0.08，重复性精度达dE*ab≤0.005，并具备四种测量口径自动切换与温度湿度运算补偿功能。
三光源共用一个测试孔，一次测量即可获得380nm-760nm可见光、940nm红外线和365nm紫外线透过率。平行光设计可测试大厚度材料，1mm测试孔径适合小尺寸样品。
可同时测量紫外辐照强度和阻隔率，光谱响应260-380nm，功率量程0-40000uW/cm²，自动换算阻隔率并直接显示，便携式设计使用方便。
采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源，重复性ΔE*ab 0.035以内，台间差ΔE*ab<0.35，配备Φ4mm/Φ5mm双测量口径，支持多种颜色空间和观测光源。
采用D/8结构贴合人眼观察习惯，内置高精度光谱传感器可捕捉400-700nm波长光线，快速将光信号转化为精准数字色彩信息。
采用差分光谱引擎与双光路设计，重复性精度达dE*ab≤0.005，台间差≤0.12。配备脉冲氙灯与LED双光源，支持四种测量口径自动切换，具备温度湿度补偿功能。
