具备透反射双光学路径，支持360度旋转工作台和6'游标精度，无需样品染色即可实现高对比度晶体结构观察，配备无限远光学系统和四孔物镜转换器。
采用无限远光学系统，配置无应力平场物镜，微动格值达2μm，旋转载物台带360°刻度，支持三目观察与显微摄影，工作台垂直行程30mm。
支持透反射双光学路径观察，配备9.7寸平板电脑成像系统，提供高对比度图像显示，无需样品特殊处理即可清晰呈现表面形貌与结构特征。
具备透反射两种照明型式，支持明场和偏光观察；配备500万像素数字CMOS摄像机，实现自动对焦和实时视频录制；放大倍数40X-1600X，采用无限远光学系统。
采用全金属钣金支架结构，配备36W×4支反射灯管和36W×4支透射灯管，显色指数CRI≥95，钢化玻璃加亚克力匀光板使光照均匀不刺眼，带滚轮和可调节支撑地脚。
配备无限远光学系统和500万像素CMOS摄像头，支持单偏光、正交偏光及锥光观察，转换器四孔设计，聚光镜数值孔径1.25，满足高精度晶体结构研究需求。
全金属材质结构坚固耐用，配备可旋转反射板和带滚轮底脚便于调整移动；采用Graphica进口灯管，显色指数CRI≥95，反射和透射各4支36W灯管确保均匀照明。
采用漫透射光路设计，光密度测量范围0.00-6.00 OD，透光率精度±2%，可同时测量透光率、绝对光密度、相对光密度和网点面积率。
适用于高浓度液体、酱状物和粉末样品的反射色测量，通过比色皿支架设计确保测量环境全黑，保证测量结果的准确性和稳定性。
采用0°照射漫反射接收原理，重复性≤0.3，示值误差±1.0，适用于白色和浅色漆遮盖力测定，操作简便便携。
