仪器商品分类

    红外线热像测温仪

    红外线热像测温仪通过接收物体表面散发的红外辐射,将其转换为温度分布图像。用于非接触测量物体表面温度分布,在设备故障检测、材料研究和生产过程监控中应用。
    仪器选型
    选择时考虑测温范围覆盖需求目标,空间分辨率匹配检测精度要求,响应时间适应被测物体温度变化速度,环境条件符合使用场景,同时注意发射率设置和镜头选配。

    检测仪器

    配备红外传感器和热敏探头双测量模式,响应时间仅1秒,光学系数3:1,支持-40~150℃宽范围测温,满足不同场景的精准温度检测需求。

    ¥ 3600.00

    配备384*288红外分辨率,支持-20℃~550℃宽量程测温,可观测φ=25um微小物体温度变化,具备多镜头切换和实时数据分析功能。

    测量范围0-40000W/m²,光谱响应1000-1700nm,可自动计算并显示红外阻隔率,感光孔径10mm,适用于多种红外光源和隔热材料的性能测试。

    ¥ 470.00

    采用红外光谱测量技术,测温范围覆盖-18至1150℃,精度达±2%,具备20:1物距比和500ms快速响应,支持数据存储和USB连接功能。

    ¥ 495.00

    采用远红外辐射加热技术,配备热敏电阻控测温仪,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,具有快速干燥和低能耗特点,适用于多种样品处理。

    ¥ 3179.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,实现全自动恒温控制,快速干燥且能耗较低。

    ¥ 5019.00

    具备320x240红外分辨率,支持-10℃至450℃测温范围,提供多种图像显示模式和区域测温功能,内置分析软件支持二次开发,便于现场检测和数据分析。

    配备256x192探测器分辨率,焦距可调最小观察距离20mm,支持双板拼接扩大观察面积,多轴支架实现多角度观察,可同时显示环境温度和热成像温度。

    采用短波红外技术,测温范围200~2200℃,精度±2%,具备激光定位、数据保持和发射率可调功能,响应时间500ms,物距比80:1。

    ¥ 1449.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,快速低耗调节方便。

    ¥ 2689.00

    具备-50~900℃宽量程和±2%精度,12:1物距比实现非接触测量,响应时间500ms,结构紧凑轻便仅170g,适用于高温或危险环境。

    ¥ 249.00

    采用远红外辐射加热技术,控温精度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,实现快速低耗干燥,工作室尺寸320*380*320mm。

    ¥ 1969.00

    采用氧化钒非制冷红外焦平面探测器,测温分辨率达0.1℃,具备56°×42.2°视场角和免调焦设计,支持中心点测温和冷热点自动追踪功能。

    ¥ 2199.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,实现快速低耗干燥,适用于多种样品处理。

    ¥ 5799.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动±2℃,配备热敏电阻控测温仪,具有快速、低耗、调节方便等优点,适用于多种样品的干燥。

    ¥ 2429.00