仪器商品分类

    光电测厚仪

    光电测厚仪通过发射光束到材料表面,接收反射光并计算光程差,转换为厚度值。用于测量薄膜、涂层等非金属材料厚度,在质检和生产控制中确保厚度均匀。
    仪器选型
    选择时考虑测量范围覆盖样品厚度,精度满足允许误差,材料特性匹配光学原理。关注环境适应性,操作便捷性和数据输出方式,参考行业常用标准验证仪器稳定性。

    标准

    检测仪器

    采用光电计数器实现自动计数,测量快速准确;M-3摆杆周期0.625s,在标准玻璃上摆动时间440±6s;水平机构改进,刻度标尺可水平移动便于调零。

    ¥ 2340.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    采用光电检测和刻度盘自动示数,测量范围±45°,最小读数0.001°,对低旋光度样品也能准确分析,操作简便。

    ¥ 8100.00

    采用光电检测技术实现自动测量,线性升温速率八档可调,温度范围室温至400℃,精度达±0.5℃,符合药典规范。

    ¥ 8850.00

    采用光电自动平衡原理,测量范围±45°旋光度和±120°Z糖度,最小读数±0.001°,配备彩色液晶触摸屏和USB接口,支持自动复测6次并计算平均值。

    ¥ 10400.00

    采用高精度光电感应开关和精密丝杆传动,荷重可叠加500/750/1000g,测试角度45°,运行精准稳定,符合多种国际标准要求。

    ¥ 5300.00

    提供专业校准服务确保测量精度,适用于质量控制和设备维护,需与涂层测厚仪一同购买。

    ¥ 500.00

    具备光电检测和自动测量功能,温度范围RT+~320℃,分辨率0.01℃,八档线性升温速率可选,支持熔化曲线记录和平均值计算。

    ¥ 8850.00

    具备光电检测和八档线性升温速率,温度范围RT+~400℃,精度±0.2℃,自动记录熔化曲线并计算平均值,无需人工监视。

    ¥ 9760.00

    采用光电自动检测和PID调节技术,温度范围RT+~300℃,分辨率0.1℃,可自动求取熔点平均值并记录熔化曲线,支持三根毛细管同时测量。

    ¥ 14400.00

    采用光电自动检测技术,温度分辨率达0.1℃,控温系统应用PID调节及PWM技术,提高测定精度和可靠性,支持自动记录初熔、终熔结果。

    ¥ 11040.00

    具备光电非接触与接触式双重测量功能,测量范围光电2.5~99999r/min、接触0.5~19999r/min,自动记忆最大值、最小值和最后值,结构坚固便携,支持USB和蓝牙数据输出。

    ¥ 1200.00

    采用平行照明半球散射积分球光电接收方式,透光率和雾度显示精度均达0.01%,配备薄膜磁性夹具和液体样品杯,支持2000组数据存储。

    ¥ 23600.00

    采用光电自动检测和PID调节技术,温度范围RT+~320℃,分辨率0.1℃,自动显示初熔终熔并记录熔化曲线,提高测量精度和可靠性。

    ¥ 9000.00

    应用知识