具备φ4mm和φ8mm双测量口径，重复性ΔE*ab<0.06，可存储100组标样，测量时间仅需0.5秒，支持分色差显示和颜色偏向分析功能。
14mm大口径设计适用于纹理和颗粒表面测量，采用8/d光学几何结构确保数据准确，重复性标准偏差ΔE*ab≤0.08，支持多种色度空间和色差公式。
采用8mm测量口径，重复性ΔE*ab<0.05，配备TFT真彩显示屏，支持多种测量光源和色差公式，适用于多种材料表面色彩检测。
采用无限远光学系统，配备半复消色差物镜和相衬聚光镜，提供40X-1000X放大范围，可观察较厚样本并增强细胞结构三维轮廓。
采用45°/0°照明方式，重复性标准偏差∆E*ab≤0.08，可存储1500组数据，支持多种色差公式和四种观察光源，满足不同测量需求。
采用45°/0°光学几何结构，测量结果与目测一致；8mm测量口径，重复性ΔE*ab在0.08以内；内置白板参数无需每次校验，双定位技术提升测量精准度。
采用无限远光学系统，配置平场消色差荧光物镜，微动格值2μm，粗微动同轴调焦，支持多种荧光滤光片组，适用于低照度显微图像拍摄。
采用Φ4mm测量口径和全光谱LED光源，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持云端色彩数据库和多种色差公式计算，便携设计配备防尘盖和长续航电池。
采用无限远光学系统及模块化功能设计，配置平场消色差荧光物镜，微动格值2μm，支持多种荧光滤光片组激发波段，满足科研观察需求。
采用8°/d照明方式和Φ4mm测量口径，色度值重复性ΔE*ab 0.1以内，具备自动校准和移动色卡数据库功能，支持多种色差公式和光源模拟。
配备八种光源和三种测量口径，重复精度达0.05，支持多种色差公式和显示模式，内置白板自动校正，适用于不规则表面和小面积测量。
采用45/0照明受光系统，8mm测量口径，支持单次和平均测量模式，重复性标准偏差∆E*在0.1以内，可进行色差对比分析及色彩品质控制。
