机械光学分析天平

采用无限远光学系统，配备相衬聚光镜和500万像素CMOS摄像机，支持40X-1600X放大观察，具备几何测量分析功能。

具备自动双量程双精度功能，精度0.2mg，七级防震滤波可调，支持多种称重模式如密度直读和动态称量，确保快速稳定测量。

具备0.001g-0.1g精度和自动双量程功能，金属外壳坚固耐用，六级防震滤波可调，支持多种称重模式如密度直读和动态称量，确保快速稳定测量。

采用漫透射光路设计，光密度测量范围0.00-6.00 OD，透光率精度±2%，可同时测量透光率、绝对光密度、相对光密度和网点面积率。

最大称量160g，最小读数0.0001g，采用电磁力平衡传感器和四级防震设计，具备RS232接口和动态温度补偿功能。

具有0.01g可读性精度和200g称量范围，支持计数功能与单位转换，交直流两用设计便于携带使用，稳定时间不超过5秒。

采用激光光散射原理实现快速测量，具备在线全自动机械校准功能，测量范围0.01-100mg/m³，内置光路自清洗系统避免污染，支持多种切割器和采样模式。

具备0.01g高精度和±0.03g非线性误差，支持自动校准、计数功能和单位转换，配备RS232数据接口和Φ125mm秤盘，稳定时间不超过5秒。

采用电磁力平衡传感器，称量速度比机械天平快几倍且可调速，全量程去皮清零，稳定时间≤8秒，标配校准砝码。

采用自动双量程设计，精度达0.001g-0.1g，配备七级防震滤波和多种称量模式，如密度直读和动态称量，确保快速响应和高稳定性。

自动双量程双精度功能，精度0.001g-0.1g，七级防震滤波可调，内置温度显示和多种称重模式，支持RS232接口，确保称重稳定性和多功能应用。

具备0.01g高精度和400g称量范围，支持交直流供电和计数功能，配备外部校准砝码，稳定时间不超过5秒，梯形秤盘设计方便操作。

宽度2cm，光程10mm，外形尺寸12.5×22.5×45mm，专为分光光度计设计的配套比色皿，确保光学检测精度。

梯形称盘设计，量程100g精度0.01g，具备计数功能和外部校准，稳定时间≤5秒，支持交直流两用。

采用高性能单片微处理机控制，称量范围0-120g，精度1mg，具备RS232C接口可直接连接外部设备，支持累计称量和单位转换功能。