仪器商品分类

    弧面涂层测厚仪

    弧面涂层测厚仪通过磁感应或涡流原理,测量曲面基材上涂镀层厚度。用于检测弧形工件如管道、轴承的涂层均匀性,在防腐和质检中直接读数。
    仪器选型
    选择时考虑基材材质和曲率半径,匹配探头类型;涂层范围需覆盖实际厚度;环境适应性如温度;操作便捷性和校准方式;数据输出功能满足记录需求。

    术语

    检测仪器

    提供额外一年保修期限,适用于涂层测厚仪产品,需在购买设备时同步选购,不单独售卖。

    ¥ 300.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    ¥ 520.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用不锈钢材质,测量范围25~3000μm,阶齿设计分刻度25μm至200μm,可快速垂直放置于涂层表面立即测得厚度。

    ¥ 120.00

    提供专业校准服务确保测量精度,适用于质量控制和设备维护,需与涂层测厚仪一同购买。

    ¥ 500.00

    采用磁感应和电涡流双原理,可同时测量油漆和锌层厚度,测量范围0-1500μm,精度达±1%,适用于复合涂层系统检测。

    ¥ 8140.00

    采用90°测量角度和电涡流原理,可精确测量边缘涂层、窄管涂层及小型表面区域,确保在复杂几何形状上的稳定可靠测量。

    ¥ 1000.00

    适用于高温表面测量,最高温度达250℃,测量范围0~1000微米,精度±(2μm+3%),配备高对比度彩色液晶显示屏,数据存储1000个。

    ¥ 10210.00

    采用高速ADC数据采集,分辨率达1μm,可同时测量多层涂层或涂层加基材厚度,具有增益自动切换和预估厚度设置功能,测量范围13~1000μm(环氧树脂涂层)。

    ¥ 6560.00

    采用超声波测量原理,测量范围50~3800μm,精度±(2μm+3%),适用于混凝土和玻璃纤维等基材的涂层厚度检测。

    ¥ 17760.00

    采用电涡流原理实现非接触测量,测量范围0~1250μm,误差仅±3%,支持最小F5mm测量面和0.3mm薄基体检测,适用于各类非导电涂层厚度分析。

    ¥ 520.00

    采用7.5MHz高频探头,测量范围0.7~50mm,适用于薄壁及小弧面工件,管材测量下限达Φ25*1.2mm,适应性强。

    ¥ 1100.00

    测量厚度达25mm,误差仅±3%,采用可移动FJS探头,适用于厚保护涂层基材,具备统计功能和250000个数据存储能力。

    ¥ 12650.00

    采用弧线往复运动方式,提供四种可调速度(21-106rpm)和2lb/4lb摩擦荷重,支持0-999999次自动停机测试,适用于油墨耐磨性评估。

    ¥ 5280.00

    采用超声波测量原理,测量范围13~1000μm,精度±(2μm+3%),适用于木材、塑料等基材上的聚合物涂层厚度检测。

    ¥ 15980.00

    应用知识

    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。
    涂层测厚仪磁性法与涡流法的测量原理差异
    涂层测厚仪主要有磁性法和涡流法两种测量原理。选择方法时需根据基体材料特性决定,以确保测量准确。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。