偏反光显微镜

采用偏振光干涉原理，配备1/4波片补偿方法，光程差测定范围0-589.44nm，测量精度±4nm，可同时实现定性观察和定量分析。

配备无限远光学系统和500万像素CMOS摄像头，支持单偏光、正交偏光及锥光观察，转换器四孔设计，聚光镜数值孔径1.25，满足高精度晶体结构研究需求。

配备9.7寸安卓平板成像系统，支持单偏光、正交偏光和锥光观察，配置石膏λ片和石英楔子等补偿器，聚光镜数值孔径1.30，移动尺行程30×40mm。

具备透反射两种照明型式，支持明场和偏光观察；配备500万像素数字CMOS摄像机，实现自动对焦和实时视频录制；放大倍数40X-1600X，采用无限远光学系统。

采用电光源照明亮度可调，配备摇摆式阿贝聚光镜数值孔径1.30，提供石膏λ片和石英楔子等补偿器，支持360度旋转工作台。

采用偏振光干涉原理，配备560nm全波片，检偏镜通光口径达150mm，可快速连续分析透明材料内应力，支持定性或半定量测量。

采用偏振光干涉原理，配备560nm全波片，可定性或半定量测量内应力，检偏镜通光口径达150mm，支持连续快速分析透明材料。

提供单偏光、正交偏光和锥光观察，总放大倍数40X~1000X，采用粗微动同轴调焦系统，微调精度达0.01mm，内置调光高亮度LED灯。

采用无限远光学系统，配置无应力平场物镜，微动格值达2μm，旋转载物台带360°刻度，支持三目观察与显微摄影，工作台垂直行程30mm。

采用无限远光学系统，支持明场、荧光、相衬、偏光多种观察模式；配备六孔转换器带DIC插槽和100W汞灯光源，提供高分辨率图像；自动对焦系统保持样本焦平面稳定。

具备透反射照明切换功能，配置中心可调无应力物镜和旋转载物台，微动格值2μm，工作台垂直行程30mm，支持正交与锥光观察。

采用无限远光学系统，支持多种观察方式，配备六孔物镜转换器和N.A.1.1阿贝聚光镜，放大倍数40X-1000X，操作简便灵活。

配备三目观察头和四孔物镜转换器，总放大倍数40X-1000X，支持阿贝聚光镜和可旋转起偏振片，适用于双折射物质研究。

具备透射和反射双照明模式，支持明场与偏光观察，物镜放大倍数4X-100X，瞳距55-75mm，铰链式镜筒可360度自由转动。

采用无应力平场物镜与大视野目镜，微动格值2μm，支持旋转载物台与透反射照明，适用于双折射性物质的高精度观察与分析。