采用硅光电二极管阵列和双32组感应器，重复性ΔE*ab控制在0.05以内，支持Φ4/8mm双测量口径，适应多种表面，确保测量稳定高效。
采用硅光电二极管阵列和8mm测量口径，重复性ΔE*ab控制在0.1以内，光源寿命长达5年且支持6000次测量，确保稳定性和高效性。
采用硅光电二极管阵列传感器，重复性ΔE*ab控制在0.025以内，支持SCI/SCE同时测量，内置摄像头定位，7英寸触摸屏操作便捷。
采用硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.06以内，配备8mm测量口径，支持摄像头取景定位，确保测量准确高效。
采用硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.08以内，8mm测量口径，光源寿命5年大于300万次测量，适合连续性检测工作。
采用双40阵列传感器和D/8结构，支持SCI/SCE同时测量，测试时间约3.2秒，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，适用于荧光样品和多种颜色空间分析。
采用双40阵列传感器，测量时间约1.5秒，重复性ΔE*ab控制在0.05以内，支持SCI/SCE同时测量和摄像头定位。
采用大面积硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.022以内，配备三个测量口径，支持多种观测光源和颜色空间，适用于各种精确色彩测量场景。
采用8mm测量口径和光电二极管阵列传感器，测量时间仅需1.0秒，重复性ΔE*ab<0.08，立式结构便于生产线检测和移动使用。
采用大面积硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，配备五测量口径适应多种样品，大尺寸触摸屏操作便捷。
采用硅光电二极管阵列感应器和平面光栅分光技术，重复性ΔE*ab控制在0.08以内，8mm测量口径满足多种样品测试需求，光源寿命长达5年。
采用双列26组硅光电二极管阵列，重复性ΔE*ab控制在0.025以内，配备四种测量口径和SCI/SCE同步测试功能，支持荧光样品测量，满足多行业精准颜色分析需求。
