仪器商品分类

    非接触厚度计

    非接触厚度计通过激光、超声波或电磁波测量材料表面反射信号,计算材料厚度。用于检测涂层、薄膜、金属板等材料厚度,避免接触损伤。

    检测仪器

    采用D/8标准非接触测试,测量距离3.0mm,最快0.2秒完成测量,支持多种颜色空间和光源,适用于自动化产线精准颜色质量控制。

    ¥ 49800.00

    采用45/0环形照明和凹面光栅分光技术,测量口径Φ20mm,非接触测量距离7.5mm,色度值重复性ΔE*ab 0.03以内,支持多种色差公式和色度指标分析。

    ¥ 49800.00

    采用45/0结构,测量重复性dE*ab≤0.02,台间差dE*ab≤0.25,支持非接触检测,防水防尘IP66,多种通信接口,LED光源寿命长。

    ¥ 24000.00

    采用45/0°环形照明和凹面光栅分光,测量波长400~700nm,非接触距离7.5mm,避免样品污染,支持多种测量模式和摄像头定位。

    ¥ 49800.00

    非接触式测量避免接触危险物体,响应时间500ms快速读取温度,测温范围-32~550℃覆盖广泛场景,结构紧凑易于操作。

    ¥ 71.00

    采用45/0环形照明和凹面光栅分光技术,测量波长范围400~700nm,非接触距离7.5mm,避免样本污染和损坏,支持多种测量模式和摄像头定位。

    ¥ 45800.00

    采用45/0°光学结构,非接触距离7.5mm,测量波长400-700nm,避免样品污染与损伤,支持多种测量模式和高精度色彩分析。

    ¥ 45800.00

    采用内触发脉冲氙灯实现高亮度照明,测量范围200-20000转/分钟,精度达±(1×10⁻⁴×读数+1)转/分,支持非接触式测速和转向判定功能。

    ¥ 770.00

    采用超声波技术测量未固化粉末,测量速度提升4倍,测量范围20-100μm,误差±5μm,适用于移动线和摆动部件,无需校准大多数粉末。

    ¥ 18180.00

    采用非接触式光栅光耦传感器自动采集数据,标称动能2.207J,支持自动计算强度和语音播报,内置钢砧率定功能,提升检测效率和准确性。

    ¥ 1830.00

    采用非接触式自动白板校验技术,台间差ΔE*00<0.2,测量稳定性高,支持30多种颜色指标和28种观测光源,体积小巧便于携带。

    ¥ 1600.00

    非接触测量距离7.5mm±3mm波动仍精准,测量时间仅20ms,内置自动校准和光泽补偿技术,确保颜色数据准确可靠。

    ¥ 74332.00

    采用非接触式传感器减少测量漂移,电导率测量范围达0-10000μS/cm,温度精度0.1℃,支持长达3年的电池续航和70米水深工作环境。

    ¥ 10200.00

    采用45/0环形照明和凹面光栅分光技术,测量口径20mm,非接触距离7.5mm。具备256像元双阵列CMOS感应器,波长范围400~700nm,色度值重复性ΔE*ab 0.05以内,支持多种颜色空间和色差分析。

    ¥ 45800.00

    重复性小于等于0.05,显示精度0.01,采用非接触式自动白板校验和积分球双光路设计,Type-C接口充满电可连续测试12000次。

    ¥ 1980.00

    应用知识

    粗糙度测量仪选型 接触式与非接触式的选择
    这篇文章介绍了粗糙度测量仪选型时,接触式与非接触式的区别。
    超声波测厚仪选型 探头配置与测量模式的技术考量
    这篇文章主要介绍了超声波测厚仪选型时需考虑的技术因素。探头配置方面,频率高低影响分辨率和穿透深度,晶片尺寸决定适应曲率和表面状态,双晶探头比单晶盲区更小,延迟块适用于薄壁和高温场景。
    机械测厚仪测薄膜厚度均匀性
    机械测厚仪通过接触式测量评估薄膜厚度均匀性。测量时,测头在标准压力下接触样品,将位移转换为厚度读数。
    粗糙度测量仪选型参数触针式与激光式对比
    触针式粗糙度测量仪通过接触式扫描,依据ISO 4287等标准测量二维轮廓参数,激光式采用非接触光学原理,参考ISO 25178。
    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量
    这篇文章介绍了用库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量的方法。封孔质量会影响氧化膜的耐腐蚀和耐磨性能。库仑测厚仪通过电化学原理,测量溶解氧化膜所需的电量来评估封孔效果,结果客观可重复。
    超声波测厚仪检测厚涂层及复合涂层
    超声波测厚仪利用超声波脉冲反射原理测量涂层厚度,通过计算声波在材料中的传播时间与声速得出结果。检测厚涂层和复合涂层时,需应对材料声衰减、声速未知及多层界面信号识别等挑战。
    涡流测厚仪测量非导电基体上金属镀层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在金属镀层中感应涡流,从而根据线圈阻抗变化测量厚度。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    电解测厚仪在精密电镀层质量控制中的应用
    电解测厚仪通过电化学溶解原理测量镀层厚度,依据法拉第定律计算,精度高且不依赖校准。
    超声波测厚仪测量软包装材料厚度
    这篇文章介绍了超声波测厚仪测量软包装材料厚度的原理、技术要点和操作流程。它基于超声波脉冲反射原理,通过测量声波在材料中的传播时间计算厚度。
    薄膜厚度测量仪的原理与选型
    这篇文章介绍了薄膜厚度测量仪的原理与选型方法。测量原理主要分为接触式和非接触式,通过探测薄膜对物理信号的响应差异来计算厚度。
    涡流测厚仪检测非铁金属上涂层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在非铁金属基体表面感应出涡流。