仪器商品分类

    铜膜厚仪

    铜膜厚仪通过X射线荧光或涡流感应原理,测量铜层厚度。X射线法用射线激发铜原子产生特征X射线,强度对应厚度;涡流法利用探头电磁场变化计算厚度。用于线路板、金属镀层等行业的铜膜厚度检测。
    仪器选型
    选择铜膜厚仪需考虑测量原理是否匹配基材特性,X射线法适用多种基材但需防护,涡流法限于非导电基材。确认量程和精度满足检测标准,核查仪器校准证书和合规性。操作界面应简洁,探头尺寸适应检测部位形状。

    标准

    检测仪器

    提供稳定的铜离子浓度标准,确保电极测量精度,250ml包装满足实验室日常校准需求,适用于各种铜离子检测场景。

    ¥ 230.00

    符合ISO2808-1974标准,量程0~150μm,精度不大于5μm,可测定湿膜厚度并估计干膜厚度,适用于实验室和生产控制。

    ¥ 330.00

    符合ISO2808标准,量程0~500μm,精度不大于5μm,可测定湿膜厚度并估计干膜厚度,适用于实验室和生产现场。

    ¥ 330.00

    采用电涡流测厚原理,测量范围0-1000μm,分辨率0.1μm,最小可测凸面曲率3mm,具备自动关机和低电压提示功能。

    ¥ 1200.00

    采用不锈钢材质,厚度仅1.5mm,量程20~200μm,分刻度20μm,卡片式设计便于现场快速测量湿膜涂层厚度。

    ¥ 280.00

    采用三道轮结构设计,中心轮接触膜层直接读数,量程0-500μm分度25μm,可在平面和曲面进行无损厚度测量。

    ¥ 699.00

    采用滚轮式设计,量程范围0~500μm,不锈钢材质确保耐用性,适用于现场快速测量湿膜厚度,符合多项执行标准。

    ¥ 450.00

    测量范围0.00~5.00 ppm,精度±0.05 ppm,采用LED@575nm光源,基于化学反应快速检测铜离子浓度,适用于现场和实验室应用。

    ¥ 880.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    不锈钢材质坚固耐用,量程范围50-950微米,分刻度50和100微米,外形紧凑仅65*43*1.5mm,适合现场快速测量湿膜厚度。

    ¥ 280.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    采用机械测量法,测量范围0~1mm,精度≤0.005mm,分度值0.001mm,测头直径Φ5mm,适用于平面薄膜和薄片,提供两种测头压力选择。

    ¥ 1200.00

    铜质杯体确保耐用性,流孔直径4mm配合100ml容量,测量流出时间范围0~150s,适用于条件粘度测定。

    ¥ 420.00

    采用三道轮结构设计,中心轮接触膜层直接读取厚度,量程0-100μm,分度值5μm,可在平面和曲面进行无损测量。

    ¥ 699.00

    采用精密不锈钢材质制造,具备50~950μm量程范围,10个阶齿设计可精确测量湿膜厚度,确保涂装质量并避免材料浪费。

    ¥ 220.00