采用磁性和涡流两种测厚方法，测量范围0-1250μm，具备自动识别铁基与非铁基体功能，支持单点和两点校准，具有电源欠压指示和统计功能。
采用磁性法测量原理，厚度范围0-3000μm，误差±3%，具有分体探头结构，支持单次和连续测量模式，配备RS-232C接口。
采用磁感应测厚原理，测量范围0~1250微米，适配leeb242机型，可连接打印机输出数据，适用于磁性金属基体上的非磁性涂层厚度检测。
采用磁感应原理测量，厚度范围0~1000μm，误差±3%，具备低电压提示功能，支持分体探头和定制量程，适应不同曲率基体测量需求。
采用磁感应和电涡流双测厚方法，测量范围0-1500μm，分辨率0.1μm，支持连续和单次测量，具有统计功能和500组数据存储。
采用磁感应和涡流双测厚方法，测量范围0-1250μm，误差±3%，自动识别铁基与非铁基体，具备统计功能和欠压指示，操作便捷。
采用磁感应方法，测量范围0~2000μm，误差±5%，分辨率0.1μm，支持分体探头和低电压提示，适用于多种涂层类型。
采用磁感应原理测量0-10mm厚度范围，分辨率达0.1μm，探头耐磨50万次以上，适用于-10-50℃环境，误差范围±3%，测试稳定快速。
采用磁感应原理，测量范围达0-10000μm，支持一点和二点校准，分体式结构设计可适配多种探头类型，满足不同涂层厚度测量需求。
采用磁感应和电涡流双测量方法，测量范围0~3000μm，精度±2%，探头耐磨50万次以上，测量速度达0.3秒/次，适用于各种基体材料。
采用磁感应原理测量涂层厚度，测量范围0-1250μm，分辨率达0.1μm，具有自动识别探头、数据存储和上下限报警功能，铝制外壳坚固耐用。
采用磁性测厚方法，测量范围0-1250μm，支持五种测头类型，具有零点校准和连续测量功能，配备USB接口实现数据传输。
