采用双阵列256像元CMOS探测器，测量波长范围360~780nm，支持反射和透射测量，四种口径自动切换，内置温度监控及补偿，确保颜色数据精准稳定。
采用d/8照明接收方式，波长范围400~700nm，重复性δu(Y)≤0.5，可显示光谱曲线并支持多种表色系统，便于色彩分析。
仪器采用双阵列256像元CMOS探测器及4颗脉冲氙灯，测量波长范围360~780nm，支持Φ25.4/15/8/4mm四种口径自动切换，内置温度监控和补偿确保测量准确性。
具备85℃单一温度测量，边框采用回归定向反射技术，弱光环境下可远距离识别，防污防水保护膜确保读数清晰，适合室内外多种场景应用。
采用凹面光栅分光原理，反射率重复性标准偏差0.1%以内，支持SCI/SCE同时测量及四种UV模式切换，内置摄像头定位和超1000万条数据存储。
配备7英寸电容触摸屏和三种自动识别测量口径，采用凹面光栅分光技术，波长范围360-780nm，支持反射和透射测量，内置温度监控确保数据准确性。
具备透反射双光学路径，支持360度旋转工作台和6'游标精度，无需样品染色即可实现高对比度晶体结构观察，配备无限远光学系统和四孔物镜转换器。
采用全金属钣金支架结构，配备36W×4支反射灯管和36W×4支透射灯管，显色指数CRI≥95，钢化玻璃加亚克力匀光板使光照均匀不刺眼，带滚轮和可调节支撑地脚。
全金属材质结构坚固耐用，配备可旋转反射板和带滚轮底脚便于调整移动；采用Graphica进口灯管，显色指数CRI≥95，反射和透射各4支36W灯管确保均匀照明。
配备无限远光学系统和500万像素CMOS摄像头，支持单偏光、正交偏光及锥光观察，转换器四孔设计，聚光镜数值孔径1.25，满足高精度晶体结构研究需求。
