采用非接触式测量技术,提离距离达5mm,支持800°高温检测,无需耦合剂即可对粗糙表面或带涂层工件进行精确测厚,精度达±0.01mm。
采用电磁超声技术实现非接触测量,无需耦合剂和表面打磨,最高支持800℃高温检测,测量范围1-240mm,分辨率0.01mm,具备高温声速自动补偿功能。
采用45/0环形照明和凹面光栅分光技术,测量口径Φ20mm,非接触测量距离7.5mm,色度值重复性ΔE*ab 0.03以内,支持多种色差公式和色度指标分析。
采用45/0°环形照明和凹面光栅分光,测量波长400~700nm,非接触距离7.5mm,避免样品污染,支持多种测量模式和摄像头定位。
采用45/0环形照明和凹面光栅分光技术,测量波长范围400~700nm,非接触距离7.5mm,避免样本污染和损坏,支持多种测量模式和摄像头定位。
采用45/0°光学结构,非接触距离7.5mm,测量波长400-700nm,避免样品污染与损伤,支持多种测量模式和高精度色彩分析。
采用非接触式自动白板校验技术,台间差ΔE*00<0.2,测量稳定性高,支持30多种颜色指标和28种观测光源,体积小巧便于携带。
采用内触发脉冲氙灯实现高亮度照明,测量范围200-20000转/分钟,精度达±(1×10⁻⁴×读数+1)转/分,支持非接触式测速和转向判定功能。
采用超声波技术测量未固化粉末,测量速度提升4倍,测量范围20-100μm,误差±5μm,适用于移动线和摆动部件,无需校准大多数粉末。
采用非接触式光栅光耦传感器自动采集数据,标称动能2.207J,支持自动计算强度和语音播报,内置钢砧率定功能,提升检测效率和准确性。
采用45/0环形照明和凹面光栅分光技术,测量口径20mm,非接触距离7.5mm。具备256像元双阵列CMOS感应器,波长范围400~700nm,色度值重复性ΔE*ab 0.05以内,支持多种颜色空间和色差分析。