采用磁感应方法，测量范围0~2000μm，误差±5%，分辨率0.1μm，支持分体探头和低电压提示，适用于多种涂层类型。
采用磁感应测厚原理，测量范围0~1250微米，适配leeb242机型，可连接打印机输出数据，适用于磁性金属基体上的非磁性涂层厚度检测。
采用双功能探头设计，测量范围0-1000微米，配备耐磨红宝石探头和V形槽结构，支持自动基材识别和零点校准功能。
采用磁感应原理测量，厚度范围0~1000μm，误差±3%，具备低电压提示功能，支持分体探头和定制量程，适应不同曲率基体测量需求。
采用磁感应原理实现0-6000μm大量程测量，误差仅±3%。具备连续单次双测量模式，支持四点统计功能，大容量存储2000组数据，自动识别基体材质。
采用电涡流原理测量非铁金属基材上非导电涂层，厚度范围0~625μm，误差±3%，具备IP65防护等级和每分钟60多个读数的快速测量能力。
采用高速ADC数据采集，分辨率达1μm，可同时测量多层涂层或涂层加基材厚度，具有增益自动切换和预估厚度设置功能，测量范围13~1000μm（环氧树脂涂层）。
采用磁感应原理测量0-1250μm厚度，配备带线探头可测量凹槽和狭窄区域，支持单点和两点校准，具有自动基体识别和欠压提示功能。
采用磁感应原理测量0-10mm厚度范围，分辨率达0.1μm，探头耐磨50万次以上，适用于-10-50℃环境，误差范围±3%，测试稳定快速。
采用电涡流和磁感应双原理自动识别基材，测量范围0-1000μm，具备116组数据存储和零点、二点校准功能，支持连续和单次测量模式。
采用磁感应和电涡流两种测量方法，覆盖0-1500μm范围，分辨率达0.1μm，支持连续和单次测量模式，具备统计功能和500组数据存储，适用于不同曲率半径和基体厚度场景。
采用双功能测量原理，测量范围0~1250μm，误差±1~3%，具备连续和单次测量模式，大容量存储2000组数据，支持多种校准方式和统计功能。
