晶振薄膜测厚仪

采用高精度计时芯片实现0.001mm分辨率，支持单双晶探头覆盖超薄至常规工件测量，自动识别材料厚度并穿透涂层，可存储2000组数据。

采用2.0MHz频率探头，测量范围2.0~400.0mm，专用于铸铁等粗晶材质厚度检测，管材测量下限Φ30*4mm。

采用高精度计时芯片实现±0.05mm精度，支持单双晶探头覆盖超薄至常规工件测量，具备自动增益调节和涂层穿透功能，工作温度范围-10~50℃。

采用高精度计时芯片和自动实时校准，显示分辨率达0.001mm，支持单晶和双晶探头，自动调节信号增益和识别表面涂层，适用于超薄和常规工件测量。

采用2.0MHz频率，专为铸铁等粗晶材质设计，内凹曲面结构适配特殊工件形状，测量范围覆盖2.0~400.0mm，管材测量下限达Φ30*4mm。

采用双晶探头和超声波脉冲反射技术，测量范围0.8-350mm，精度最高±0.05mm，适用于多种工程材料，操作简便。

符合ISO2808-1974标准，量程0~150μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产控制。

符合ISO2808标准，量程0~500μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产现场。

采用不锈钢材质，厚度仅1.5mm，量程20~200μm，分刻度20μm，卡片式设计便于现场快速测量湿膜涂层厚度。

采用5MHz双晶探头，测量范围0.8-600mm，精度达±0.05mm，具备240×160点阵LCD显示和声速可调功能，便携轻巧仅230g，适用于多种工业环境。

采用三道轮结构设计，中心轮接触膜层直接读数，量程0-500μm分度25μm，可在平面和曲面进行无损厚度测量。

采用滚轮式设计，量程范围0~500μm，不锈钢材质确保耐用性，适用于现场快速测量湿膜厚度，符合多项执行标准。

专用于涂层测厚仪校准，确保厚度测量准确，适用于F型设备，提升检测可靠性。

不锈钢材质坚固耐用，量程范围50-950微米，分刻度50和100微米，外形紧凑仅65*43*1.5mm，适合现场快速测量湿膜厚度。

采用磁感应原理，测量范围0~1250μm，适配leeb220和leeb222涂层测厚仪，耐磨性好，适用于多种非磁性涂层厚度检测。