阵列分光测色仪

宽度为5cm，光程10mm，外形尺寸12.5×52.5×45mm，适用于分光光度计配套使用，确保光学检测精度。

宽度2cm，光程10mm，外形尺寸12.5×22.5×45mm，专为分光光度计设计的配套比色皿，确保光学检测精度。

宽度3cm，光程10mm，外形尺寸12.5×32.5×45mm，作为分光光度计专用配件，确保光路稳定和测量准确性。

采用大面积硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.022以内，配备三个测量口径，支持多种观测光源和颜色空间，适用于各种精确色彩测量场景。

采用大面积硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，配备五测量口径适应多种样品，大尺寸触摸屏操作便捷。

采用大面积硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，配备5种测量口径可适应不同样品，支持荧光样品测量。

采用硅光电二极管阵列和平面光栅分光技术，测量波长范围400-700nm，重复性ΔE*ab 0.1以内，支持SCI测量模式。

采用双40阵列传感器和D/8结构，支持SCI/SCE同时测量，测试时间约3.2秒，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，适用于荧光样品和多种颜色空间分析。

采用硅光电二极管阵列和双32组感应器，重复性ΔE*ab控制在0.05以内，支持Φ4/8mm双测量口径，适应多种表面，确保测量稳定高效。

采用硅光电二极管阵列和8mm测量口径，重复性ΔE*ab控制在0.1以内，光源寿命长达5年且支持6000次测量，确保稳定性和高效性。

采用硅光电二极管阵列传感器，重复性ΔE*ab控制在0.025以内，支持SCI/SCE同时测量，内置摄像头定位，7英寸触摸屏操作便捷。

采用双阵列CMOS图像感应器，光谱响应范围宽，反射色度值重复性ΔE*ab ≤0.015，支持多姿态测量和自动温湿度补偿，确保数据稳定可靠。

采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列，光学分辨率小于10nm，可同时测量SCI/SCE光谱，台间差ΔE*ab<0.15，配备摄像头定位和稳定片平台。

采用硅光电二极管阵列感应器，重复性ΔE*ab控制在0.06以内，配备8mm测量口径，支持摄像头取景定位，确保测量准确高效。

采用PD阵列探测器满足CIE V(λ)2度视觉响应，测量孔径Φ15mm，开放式样品仓支持竖立卧式测试，动态监控光源和环境变化，确保数据可靠。