光学厚度计

专用于涂层测厚仪校准，确保厚度测量准确，适用于F型设备，提升检测可靠性。

采用磁感应原理，测量范围0~1250μm，适配leeb220和leeb222涂层测厚仪，耐磨性好，适用于多种非磁性涂层厚度检测。

提供专业校准服务确保测量精度，适用于质量控制和设备维护，需与涂层测厚仪一同购买。

采用漫透射光路设计，光密度测量范围0.00-6.00 OD，透光率精度±2%，可同时测量透光率、绝对光密度、相对光密度和网点面积率。

三合一光路设计可同时测量蓝光430nm、紫光395nm和可见光透过率，测试孔径Φ1mm适应大厚度材料，具备实时动态自校准功能确保数据精准。

宽度2cm，光程10mm，外形尺寸12.5×22.5×45mm，专为分光光度计设计的配套比色皿，确保光学检测精度。

宽度3cm，光程10mm，外形尺寸12.5×32.5×45mm，作为分光光度计专用配件，确保光路稳定和测量准确性。

具有发射-回波和回波-回波两种测厚模式，测量范围0.65~600mm，可自动识别探头类型并进行零点校准，支持反测声速功能以提高精度。

采用超声波原理测量厚度，测量范围0.8~300mm，精度最高达±0.04mm，支持高速测量10次/秒，便携设计适合野外现场使用。

测量铁质金属上非磁性涂层，厚度范围0-6000μm，精度±3%，内置探头单手操作，防护等级IP65，每分钟60多个读数。

测量范围1.2~225mm，支持声速测定和12笔数据存储功能，具备上下限报警设定和耦合状态提示，适用于多种材料厚度检测。

符合ISO2808-1974标准，量程0~150μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产控制。

采用微处理器技术实现0.7-400mm厚度测量，分辨率为±0.01mm，支持五种探头选配，具备自动关机和背光显示功能。

频率5.0MHz，支持隔漆层检测和发射到回波模式，测量范围2~160mm，适用于多种工件厚度测量。

具备0.01mm高分辨率和0.65-400mm宽测量范围，支持探头自动识别和多种测量模式，可穿透涂层测量基体厚度并实现数据冻结显示。