产品概述
Surfix® E-N是一款非铁基统计型膜厚仪，属于Surfix® E Family系列。它搭配N1.5外置固定探头，采用电涡流测量原理，专用于测量有色金属基材上的涂镀层厚度。该仪器测量范围为1~1500μm，精度为±(1μm+1%测量值)，分辨率达0.1μm。主机具备IP52防护等级，并可通过红外接口便捷传输数据。
产品特色
1. 采用电涡流测量原理，适用于有色金属基材上的涂镀层测量。
2. 测量范围宽，可达0~1500μm（规格参数显示为0~1500μm）。
3. 测量精度高，为±(1μm+1%测量值)，分辨率达0.1μm。
4. 具备统计功能，可计算测量次数、平均值、标准偏差、最小值、最大值。
5. 配备红外数据接口，便于数据传输。
6. 主机防护等级为IP52，具备一定的防尘和滴水能力。
7. 数据存储容量为2组，每组100个测量值。
8. 支持多种校准方式：出厂校准、零点校准、薄膜校准。
工作原理
该仪器采用电涡流测量原理。当探头靠近导电的金属基材时，会在基材中感应出涡流。涂镀层的存在会改变探头与基材之间的电磁耦合效应，仪器通过检测这种变化来精确测量非导电涂镀层在有色金属基材上的厚度。
应用领域
电镀、油漆、汽车工业、化学工业、航空航天、造船业、轮胎制造业
操作步骤
1. 根据测量需求，选择合适的校准模式（如零点校准或薄膜校准）。
2. 将探头垂直、平稳地放置于待测样品表面。
3. 触发测量，仪器显示并记录当前测量值。
4. 重复测量以获得统计数据（如平均值、标准偏差等）。
5. 可通过红外接口将存储的测量数据传输至外部设备。
注意事项
* 测量前需确保仪器已正确校准。
* 测量时探头需垂直于被测表面并保持稳定。
* 被测区域的最小尺寸应不小于5mm×5mm。
* 测量曲面时，需注意最小曲率半径要求（凸面最小1.5mm，凹面最小5mm）。
* 基材最薄厚度不应小于50μm。
* 仪器工作环境温度为0℃~60℃，探头接触表面温度为-15℃~60℃。
* 注意主机的防护等级为IP52，不适用于水下或持续喷淋环境。
* 使用红外传输数据时，需确保接口对准且无强光干扰。
