产品概述
PHYNIX Surfix®E-FN basic两用基本型膜厚仪是Surfix FN系列的基础版型号,专为对成本有较高要求的用户设计。它采用磁感应与电涡流两用测量原理,适用于多种基材上的涂层厚度测量,具备出厂校准、零点校准和薄膜校准功能,但相较于高阶型号,不具备数据存储、统计、极限值设定、零漂移补偿、接口及屏幕背光等功能。
产品特色
1. 采用磁感应与电涡流两用测量原理,适用于铁基和非铁基材。
2. 测量范围宽,覆盖0至1500微米。
3. 测量精度高,误差范围为±1%。
4. 分辨率精细,达到0.1微米。
5. 配备带线探头,探头尺寸为Φ14*83mm,便于操作。
6. 支持多种校准模式,包括工厂校准、零点校准以及薄膜校准。
7. 结构紧凑轻便,整机重量(含探头和电池)仅为205克。
8. 防护等级为IP52,具备一定的防尘和防滴水能力。
9. 工作环境温度适应范围广,为0℃至60℃。
工作原理
该仪器基于磁感应和电涡流两种物理原理工作。当测量铁磁性基体(如钢、铁)上的非磁性涂层时,使用磁感应原理,通过测量探头与基体之间磁通量的变化来确定涂层厚度。当测量非铁磁性金属基体(如铝、铜、不锈钢)上的绝缘涂层时,则使用电涡流原理,通过测量探头线圈阻抗的变化来计算涂层厚度。
应用领域
电镀、油漆、汽车工业、化学工业、航空航天、造船业、轮胎制造业
操作步骤
1. 根据待测基材类型(铁磁性或非铁磁性),确保仪器处于对应的测量模式。
2. 在测量前,使用随仪器提供的标准校准片进行零点校准,必要时进行薄膜校准。
3. 将仪器探头垂直且平稳地接触待测涂层表面。
4. 保持稳定,待仪器显示屏上的读数稳定后,读取并记录测量值。
5. 测量完成后,清洁探头。
注意事项
* 测量前务必根据基材类型选择正确的测量模式并进行校准,以确保测量准确性。
* 探头需垂直、平稳地接触被测表面,避免倾斜或施加过大压力。
* 仪器的工作环境温度范围为0℃至60℃,探头接触表面温度范围为-15℃至60℃,请勿在超出此范围的环境中使用。
* 本仪器不具备数据存储和统计功能,测量数据需用户自行记录。
* 仪器防护等级为IP52,可防尘和防止垂直方向滴水,但不具备防水或防油浸能力,请勿在潮湿或多尘的恶劣环境中长期使用。
* 避免仪器受到剧烈撞击或震动。
* 长期不使用时,请取出电池。