德国PHYNIX Surfix® easy X E-FN易用外置探头两用型膜厚仪

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德国PHYNIX Surfix® easy X E-FN膜厚仪为外置探头，磁感应+电涡流两用，自动识别金属底材，可测3500μm铁基膜厚或3000μm有色金属底材膜厚，2%测量精度，提供出厂校验证书。