精科 C84-Ⅲ 反射率测定仪 遮盖力测试仪 重复精度0.3%

￥ 1830.00

采用0°照射和漫反射接收原理，测量范围0~100，重复精度0.3%，允许环境温度20°±5℃，适用于涂膜遮盖力测试。