PHYNIX Easy x I-F HR 涂层测厚仪 一键校准背光显示在线统计

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采用磁感应和涡流双方法自动识别基材，测量精度±2μm/2%，具备一键校准功能，可在粗糙或弯曲表面实现精准测量，内置在线统计实时显示数据波动。