产品概述
SGW X-4显微熔点仪是仪电物光品牌的一款专业仪器，用于测定物质的熔点，特别适用于晶体有机化合物的分析。该仪器采用显微镜观察方法，支持毛细管法和载玻片-盖玻片法（热台法）两种测量方式，温度范围从室温以上至320℃，具有高精度和易操作性。
产品特色
1. 支持毛细管法和热台法两种测量方法，灵活适应不同样品需求。
2. 采用单目显微镜观察，放大倍数为40X，便于清晰观察样品熔化过程。
3. 温度范围宽，从RT+至320℃，覆盖常见有机化合物熔点。
4. 温度分辨率为1℃，重复性高，在≤200℃时为±1℃，>200℃时为±2℃。
5. 仪器结构紧凑，外形尺寸为215×140×395mm，净重3.5kg，便于移动和操作。
6. 电源要求为220V±22V 50Hz±1Hz，适应标准实验室环境。
工作原理
SGW X-4显微熔点仪基于显微镜观察方法，通过加热样品并实时监测温度变化来确定熔点。在毛细管法中，样品装入毛细管后置于加热台；在热台法中，样品置于载玻片和盖玻片之间。仪器加热样品至熔化点，用户通过显微镜目视观察样品状态变化，结合温度显示记录熔点值。
应用领域
化工、纺织、燃料、香料等晶体有机化合物之测定
操作步骤
1. 准备样品：根据测量方法选择毛细管或载玻片-盖玻片。
2. 放置样品：将样品置于加热台上。
3. 设置参数：打开电源，调整显微镜至清晰观察。
4. 加热样品：启动加热程序，缓慢升温。
5. 观察记录：通过显微镜目视观察样品熔化过程，记录熔点温度。
6. 结束测量：关闭电源，清理样品和仪器。
注意事项
• 使用前确保电源电压为220V±22V 50Hz±1Hz，避免电压不稳影响精度。
• 操作时注意缓慢升温，防止温度过高损坏样品或仪器。
• 保持显微镜镜头清洁，确保观察清晰。
• 测量后及时清理加热台和样品残留，避免污染。
• 仪器净重3.5kg，搬运时轻拿轻放，防止碰撞。
• 仅用于测定晶体有机化合物，不适用于其他类型样品。
