仪器商品分类

    仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪显微图像法形貌分析测量

    ¥ 55000.00

    采用图像法进行颗粒形貌分析,测量范围0.1~3000μm,总放大倍数8000倍,支持自动分割和多种几何参数测量,操作高效。

    分类 : 颗粒图像分析仪

    品牌 : 仪电物光

    编号 : NB028005