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    恒准ZW-3紫外分析仪薄层分析荧光检测254nm365nm

    ¥ 770.00

    配备254nm和365nm双波长紫外光源,支持薄层分析和纸层分析检测,可识别荧光物质并配备200*50mm滤光片。

    型号

    分类 : 紫外线分析仪

    品牌 : 恒准

    编号 : NB033854