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    林下 LS225+N1500 涂层测厚仪 铝基涂层测厚仪 分体式涡流感应探针式测头

    ¥ 3340.00

    采用涡流感应原理和探针式测头设计,特别适合小尺寸和异型材料测量;测量范围0-1500μm,分辨率达0.1μm,重复性误差≤±(0.8%读数+0.1μm),支持多点校准和数据统计功能。

    分类 : 涂层测厚仪

    品牌 : 林上

    编号 : NB034870