仪器商品分类

    Defelsko Advanced RTRP3-E表面轮廓测量仪数显表面粗糙度仪峰值高度密度测量

    请联系客服

    可同时测量峰值高度和密度,峰值高度测量范围20~115μm,精度±5μm,支持输出高分辨率SDF文件及2D/3D图片,便于进行表面3D图形分析。

    分类 : 粗糙度测量仪

    品牌 : Defelsko

    编号 : NB003648