产品概述
AISRY ASR-5028水煮试验箱是一款用于电子元器件可靠性测试的设备。它适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容等零组件进行沾锡性试验前的加速老化寿命试验，以及半导体、被动组件、零件接脚的氧化试验。该设备采用微电脑温度控制器，具备LED数字显示、PID+SSR控制、白金电阻温度传感器（PT-100），分辨率达0.1℃，并配备全自动安全保护装置。
产品特色
1、内、外箱体采用SUS304不锈钢制作，外观美观，不易老化。
2、配备不锈钢水箱，支持手动加水或外接自来水，低水位时可手动或自动补水，确保实验不中断。
3、采用日本欧姆龙控温，PID控制与SSR输出，控温准确，高温下可靠性高。
4、计时器可多元化设定（秒、分钟-秒、分钟、小时-分钟、小时），具备停电记忆功能，来电后可按设定时间继续工作。
5、采用全侦测系统，故障时亮灯显示，便于作业人员及时了解设备状况。
6、加温系统采用钛管发热管，不易腐蚀，使用寿命更长。
7、采用高稳定性白金探头，误差更小。
8、符合军规MTL-STP-208F、202标准。
工作原理
该设备通过微电脑温度控制器精确控制箱内水温，利用PID+SSR控制方式与白金电阻温度传感器（PT-100）实现高精度温度调节。内置的加热系统（钛管发热管）对水箱中的水进行加热，产生稳定的蒸汽环境，使被测电子元器件在设定的高温高湿条件下进行加速老化或氧化试验，以评估其可靠性和沾锡性能。
应用领域
电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验、半导体、被动组件、零件接脚氧化试验
操作步骤
1、检查设备电源及水位，根据需要手动加水或连接外部水源。
2、将被测样品放入内箱。
3、通过微电脑控制器设定所需的试验温度（最高可达97℃）和试验时间（计时器最大设定9999分）。
4、启动设备，加热系统开始工作，约45分钟可升温至设定温度。
5、设备自动运行，达到设定时间后停止或根据设定继续。
6、试验结束后，取出样品并进行后续评估。
注意事项
• 设备运行前请确保电源电压为220V，功率2KW，并连接可靠。
• 注意水位，防止低水位干烧，可利用自动补水功能。
• 操作时请注意高温蒸汽，避免烫伤。
• 故障时请根据亮灯显示排查问题，非专业人员请勿自行拆卸维修。
• 长期不使用时，请排空水箱并保持设备干燥。
